摘要 | 第4-5页 |
abstract | 第5页 |
第一章 绪论 | 第9-15页 |
1.1 研究背景及需求 | 第9-10页 |
1.2 国内外研究现状 | 第10-13页 |
1.2.1 国外研制技术现状 | 第11-12页 |
1.2.2 国内研制技术现状 | 第12-13页 |
1.3 目前存在的问题 | 第13页 |
1.4 主要研究内容 | 第13-15页 |
第二章 BX、X7R多层陶瓷电容器瓷料机理及掺杂工艺关键环节分析 | 第15-29页 |
2.1 BX、X7R多层陶瓷电容器瓷料产品工作原理 | 第15-18页 |
2.2 主晶相BaTiO3宏观高介低损耗电性能机理 | 第18-20页 |
2.3 主晶相BaTiO3偏压特性机理 | 第20-21页 |
2.4 中温烧结设计机理 | 第21-22页 |
2.5 主要参数计算公式 | 第22-24页 |
2.5.1 介质介电常数 | 第22页 |
2.5.2 介质损耗功率 | 第22-23页 |
2.5.3 介质介电常数温度变化率 | 第23-24页 |
2.5.4 介质偏压特性 | 第24页 |
2.6 掺杂工艺关键环节分析 | 第24-28页 |
2.6.1 “壳-芯”结构的构建及稳定技术攻关 | 第25-26页 |
2.6.2 掺杂改性技术攻关 | 第26页 |
2.6.3 解决偏压特性的技术攻关 | 第26-27页 |
2.6.4 玻璃相纳米复合材料的制备技术攻关 | 第27页 |
2.6.5 掺杂工艺实验设计 | 第27-28页 |
2.7 小结 | 第28-29页 |
第三章 配方设计实验 | 第29-40页 |
3.1 设计思路 | 第29页 |
3.2 BX、X7R多层陶瓷电容器瓷料技术指标 | 第29-30页 |
3.3 实验内容 | 第30-38页 |
3.3.1高介低损耗参数设计实验 | 第30-33页 |
3.3.2高温度稳定性参数设计实验 | 第33-34页 |
3.3.3高绝缘电阻参数设计实验 | 第34-35页 |
3.3.4偏压特性参数设计实验 | 第35-37页 |
3.3.5瓷料中温烧结设计实验 | 第37-38页 |
3.4 小结 | 第38-40页 |
第四章 纳米掺杂物材料制备实验 | 第40-52页 |
4.1 实验途径设计 | 第40-41页 |
4.2 主要实验仪器及实验试剂 | 第41页 |
4.3 实验方法 | 第41-51页 |
4.3.1单因素筛选实验 | 第42-44页 |
4.3.2凝胶时间正交实验 | 第44-48页 |
4.3.3干凝胶制备单因素实验 | 第48-49页 |
4.3.4煅烧双因素实验 | 第49-51页 |
4.4 小结 | 第51-52页 |
第五章 纳米复合材料掺杂实验 | 第52-55页 |
5.1 实验目的及内容 | 第52页 |
5.2 实验结果与分析 | 第52-54页 |
5.3 小结 | 第54-55页 |
第六章 工艺参数的优化实验 | 第55-65页 |
6.1 球磨机研磨设备工艺实验 | 第55-56页 |
6.2 研磨搅拌磨研磨设备工艺实验 | 第56-59页 |
6.3 立式振动磨研磨设备工艺实验 | 第59-63页 |
6.4 小结 | 第63-65页 |
第七章 实施方案的选定及最终产品测试结果分析 | 第65-68页 |
7.1 实施方案的选定 | 第65-66页 |
7.1.1 基本配方组成范围(wt%) | 第65-66页 |
7.1.2 纳米掺杂物材料制备参数 | 第66页 |
7.1.3 纳米掺杂技术的应用 | 第66页 |
7.1.4 工艺优化参数确认 | 第66页 |
7.2 最终产品测试结果及分析 | 第66-67页 |
7.2.1 测试目的 | 第66页 |
7.2.2 测试方法 | 第66页 |
7.2.3 主要实验设备及仪器仪表 | 第66页 |
7.2.4 测试结果和分析 | 第66-67页 |
7.3 小结 | 第67-68页 |
第八章 总结与展望 | 第68-71页 |
8.1 总结 | 第68-69页 |
8.2 展望 | 第69-71页 |
致谢 | 第71-72页 |
参考文献 | 第72-74页 |