摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5页 |
第一章 绪论 | 第10-29页 |
1.1 课题背景 | 第10-11页 |
1.1.1 传感器技术简介 | 第10页 |
1.1.2 压力传感器校准与补偿简介 | 第10-11页 |
1.2 压阻式压力传感器补偿技术的发展 | 第11-28页 |
1.2.1 桥内补偿技术 | 第11-16页 |
1.2.2 桥外热敏器件补偿技术 | 第16-20页 |
1.2.3 双敏感器件(双桥)补偿技术 | 第20-24页 |
1.2.4 DSP数字补偿技术 | 第24-28页 |
1.3 研究意义及论文主要内容 | 第28-29页 |
第二章 静态测量系统的原理 | 第29-40页 |
2.1 一般的测量系统 | 第29-30页 |
2.1.1 测试系统的作用 | 第29页 |
2.1.2 测试系统的构成 | 第29-30页 |
2.2 测量系统元件的静特征 | 第30-36页 |
2.2.1 系统特性 | 第30-34页 |
2.2.2 系统元件的一般形式 | 第34-35页 |
2.2.3 单元件的统计特性 | 第35-36页 |
2.3 元件静特性的鉴定 | 第36-39页 |
2.3.1 标准 | 第36页 |
2.3.2 试验测量和估计结果 | 第36-39页 |
2.4 本章小结 | 第39-40页 |
第三章 测试系统的介绍 | 第40-54页 |
3.1 系统硬件 | 第40-44页 |
3.1.1 敏感元件 | 第40-41页 |
3.1.2 信号调试元件 | 第41-42页 |
3.1.3 信号处理元件 | 第42-43页 |
3.1.4 其它系统硬件 | 第43-44页 |
3.2 系统软件 | 第44-47页 |
3.2.1 调整增益补偿软件 | 第44页 |
3.2.2 数据显示软件 | 第44-46页 |
3.2.3 数据处理软件 | 第46-47页 |
3.3 系统硬件的连线 | 第47-53页 |
3.3.1 DK90308 Evaluation Kit的连线 | 第48-49页 |
3.3.2 数据采集卡Ni6211的连线 | 第49-52页 |
3.3.3 温控设备的连线 | 第52-53页 |
3.4 本章小结 | 第53-54页 |
第四章 压阻式压力传感器的校准与DSP补偿 | 第54-84页 |
4.1 惠斯通电桥式压阻压力传感器 | 第54-57页 |
4.1.1 工作原理 | 第54-56页 |
4.1.2 压力传感器的重要参数 | 第56-57页 |
4.2 传感器的校准 | 第57-64页 |
4.2.1 输出特性曲线 | 第58-61页 |
4.2.2 不同温度下的输出特性 | 第61-63页 |
4.2.3 重复性实验 | 第63-64页 |
4.3 增益补偿 | 第64-69页 |
4.3.1 增益补偿的目的及原理 | 第64页 |
4.3.2 补偿增益实验 | 第64-67页 |
4.3.3 实验结果 | 第67-69页 |
4.4 改变输出特性曲线的线性度 | 第69-78页 |
4.4.1 传统的线性校正 | 第69-70页 |
4.4.2 实验原理 | 第70-72页 |
4.4.3 曲线化实验 | 第72-77页 |
4.4.4 实验结果 | 第77-78页 |
4.5 温度的增益与补偿 | 第78-83页 |
4.5.1 温度补偿的原理 | 第78-80页 |
4.5.2 温度补偿实验 | 第80-82页 |
4.5.3 实验结果 | 第82-83页 |
4.6 本章小结 | 第83-84页 |
第五章 总结及展望 | 第84-86页 |
5.1 总结 | 第84页 |
5.2 展望 | 第84-86页 |
参考文献 | 第86-90页 |
攻读硕士学位期间取得的成果 | 第90-91页 |
致谢 | 第91页 |