| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 第一章 绪论 | 第11-16页 |
| 1.1 选题背景及意义 | 第11-12页 |
| 1.2 研究现状 | 第12-14页 |
| 1.3 研究内容 | 第14-15页 |
| 1.4 论文结构 | 第15-16页 |
| 第二章 Type-C连接器的直流接触特性 | 第16-27页 |
| 2.1 直流接触特性的理论分析 | 第16-17页 |
| 2.1.1 接触电阻的定义和组成 | 第16页 |
| 2.1.2 接触电阻的计算 | 第16-17页 |
| 2.2 Type-C连接器接触对接触电阻检测方案设计 | 第17-18页 |
| 2.2.1 接触电阻测试原理 | 第17-18页 |
| 2.2.2 检测方案 | 第18页 |
| 2.2.3 实验步骤 | 第18页 |
| 2.3 接触电阻测试结果及分析 | 第18-25页 |
| 2.3.1 腐蚀前的接触电阻 | 第19页 |
| 2.3.2 连接腐蚀的接触电阻 | 第19-21页 |
| 2.3.3 分开腐蚀的接触电阻 | 第21-22页 |
| 2.3.4 接触表面的腐蚀物 | 第22-25页 |
| 2.4 本章小结 | 第25-27页 |
| 第三章 信号完整性相关理论基础 | 第27-37页 |
| 3.1 传输线理论基础 | 第27-29页 |
| 3.2 差分信号 | 第29-30页 |
| 3.3 散射参数 | 第30-32页 |
| 3.3.1 二端口网络S参数 | 第31页 |
| 3.3.2 混合S参数矩阵 | 第31-32页 |
| 3.4 信号完整性 | 第32-37页 |
| 3.4.1 反射 | 第32-33页 |
| 3.4.2 串扰 | 第33-34页 |
| 3.4.3 传输损耗 | 第34-35页 |
| 3.4.4 眼图 | 第35-37页 |
| 第四章 Type-C连接器仿真分析 | 第37-54页 |
| 4.1 分析对象 | 第37-38页 |
| 4.2 仿真软件 | 第38-39页 |
| 4.3 仿真分析 | 第39-46页 |
| 4.3.1 求解类型选择 | 第39-40页 |
| 4.3.2 建模 | 第40-41页 |
| 4.3.3 边界条件设置 | 第41-43页 |
| 4.3.4 求解条件设置 | 第43页 |
| 4.3.5 结果后处理 | 第43-46页 |
| 4.4 连接器完整模型与单个差分对模型的HFSS仿真分析 | 第46-48页 |
| 4.5 影响因素分析及优化 | 第48-52页 |
| 4.5.1 插入深度的影响 | 第48-50页 |
| 4.5.2 介质层介电常数的影响 | 第50-52页 |
| 4.6 眼图仿真 | 第52页 |
| 4.7 本章小结 | 第52-54页 |
| 第五章 Type-C连接器测试分析 | 第54-65页 |
| 5.1 测试夹具设计 | 第54-61页 |
| 5.1.1 设计测试夹具 | 第54-55页 |
| 5.1.2 PCB测试夹具设计 | 第55-58页 |
| 5.1.3 测试夹具仿真 | 第58-61页 |
| 5.2 测试分析 | 第61-64页 |
| 5.3 本章小结 | 第64-65页 |
| 第六章 总结与展望 | 第65-68页 |
| 6.1 总结 | 第65-66页 |
| 6.2 展望 | 第66-68页 |
| 参考文献 | 第68-70页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文目录 | 第70页 |