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硅同位素丰度的测定及水分标准物质研究

摘要第4-7页
ABSTRACT第7-10页
第一章 绪论第16-42页
    1.1 硅同位素丰度测量第16-29页
        1.1.1 基本计量单位简介第16-18页
        1.1.2 阿伏伽德罗常数简介第18-23页
        1.1.3 硅原子量的测量第23-24页
        1.1.4 硅同位素丰度的测量第24-26页
        1.1.5 同位素测试技术的改进第26-27页
        1.1.6 测量硅同位素丰度研究进展第27-29页
    1.2 水分标准物质的研制第29-40页
        1.2.1 水分检测方法第29-31页
        1.2.2 卡尔·费休水分测定法第31-33页
        1.2.3 标准物质简介第33-40页
    1.3 本论文研究目的和意义第40-42页
第二章 BrF_5方法测定硅同位素丰度比的研究第42-63页
    2.1 引言第42-43页
    2.2 实验部分第43-49页
        2.2.1 实验原理第43页
        2.2.2 实验所用仪器和药品第43-44页
        2.2.3 BrF_5法制备SiF_4气体实验装置第44-45页
        2.2.4 BrF_5法制备SiF_4气体以及产物测量实验流程第45-49页
    2.3 结果与讨论第49-62页
        2.3.1 BrF_5提纯对实验结果影响的研究第49-51页
        2.3.2 单晶硅样品预处理第51页
        2.3.3 反应系统中杂质处理第51-52页
        2.3.4 实验系统可靠性验证第52-53页
        2.3.5 SiF_4提取纯化对结果的影响第53-55页
        2.3.6 质谱仪检测SiF_4气体的研究第55-58页
        2.3.7 实验结果分析第58-62页
    2.4 小结第62-63页
第三章 混合酸溶解方法测定硅同位素丰度比的研究第63-76页
    3.1 引言第63-64页
    3.2 实验部分第64-67页
        3.2.1 实验原理第64页
        3.2.2 实验仪器和实验药品第64-65页
        3.2.3 氟硅酸钡热分解实验装置第65页
        3.2.4 实验流程第65-67页
    3.3 结果与讨论第67-74页
        3.3.1 单晶硅样品预处理第67页
        3.3.2 单晶硅样品的溶解条件的研究第67-69页
        3.3.3 BaSiF_6的制取过程研究第69-72页
        3.3.4 BaSiF_6热分解制取SiF_4气体的研究第72-73页
        3.3.5 实验取得的结果第73-74页
    3.4 小结第74-76页
第四章 实验方法的比较第76-78页
    4.1 实验原理的比较第76页
    4.2 实验装置以及实验工艺流程的比较第76-77页
    4.3 实验结果的比较第77-78页
第五章 水分标准物质的研究第78-88页
    5.1 引言第78-79页
    5.2 水饱和癸醇标准物质的研制第79-84页
        5.2.1 实验原理第79页
        5.2.2 实验装置和实验试剂第79页
        5.2.3 实验流程第79-81页
        5.2.4 结果与讨论第81-84页
        5.2.5 小结第84页
    5.3 水饱和正辛醇标准物质的复制及稳定性考核第84-88页
        5.3.1 实验原理第84-85页
        5.3.2 实验仪器和试剂第85页
        5.3.3 实验流程第85-86页
        5.3.4 水饱和正辛醇标准物质的定值第86页
        5.3.5 水饱和正辛醇标准物质的稳定性考核第86-87页
        5.3.6 小结第87-88页
第六章 结论第88-90页
参考文献第90-94页
致谢第94-96页
研究成果及发表的学术论文第96-98页
作者及导师简介第98-99页
北京化工大学第99-100页

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