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电器产品可靠性增长技术的研究

摘要第4-5页
abstract第5页
第一章 绪论第8-16页
    1.1 引言第8-10页
    1.2 电器产品可靠性增长技术概述第10-11页
    1.3 可靠性增长技术的国内外研究概况第11-14页
        1.3.1 国外研究概况第11-12页
        1.3.2 国内研究概况第12-13页
        1.3.3 可靠性增长技术的应用概况第13-14页
    1.4 本论文主要工作及研究内容第14-16页
第二章 电器产品可靠性增长管理第16-22页
    2.1 电器产品可靠性增长试验第16页
    2.2 电器产品可靠性数据收集第16-17页
    2.3 电器产品可靠性增长管理第17-22页
        2.3.1 规划管理第17页
        2.3.2 TAAF过程管理第17-18页
        2.3.3 可靠性增长管理的其他工作第18-22页
第三章 电器产品的可靠性增长模型及参数估计方法第22-44页
    3.1 威布尔分布第22-23页
    3.2 齐次泊松过程(HP)第23-24页
    3.3 非齐次泊松过程(NHP)第24-25页
    3.4 Duane模型第25-30页
        3.4.1 Duane模型的数学描述第25-26页
        3.4.2 模型参数的图估计法第26-27页
        3.4.3 模型参数的最小二乘估计法(LSE)第27-28页
        3.4.4 多台电器产品的Duane模型第28-29页
        3.4.5 Duane模型的拟合优度检验第29-30页
        3.4.6 电器产品可靠性增长的Duane模型计算实例第30页
    3.5 AMSAA模型第30-42页
        3.5.1 AMSAA模型的数学描述第31页
        3.5.2 电器产品定数截尾AMSAA模型的参数估计第31-36页
        3.5.3 电器产品定时截尾AMSAA模型的参数估计第36-39页
        3.5.4 AMSAA模型的拟合优度检验第39-42页
        3.5.5 电器产品可靠性增长的AMSAA模型计算实例第42页
    3.6 电器产品可靠性增长模型及其与威布尔分布参数的比较第42-44页
第四章 电器产品可靠性增长趋势检验法第44-48页
    4.1 Laplace检验的基本理论第44-45页
    4.2 Laplace检验方法第45-48页
        4.2.1 Laplace检验法的步骤第45页
        4.2.2 Laplace检验法的统计量第45-47页
        4.2.3 电器产品可靠性增长趋势检验计算实例第47-48页
第五章 结论第48-50页
参考文献第50-56页
附表1第56-57页
附表2第57-59页
附表3第59-61页
附表4第61-62页
附表5第62-64页
攻读硕士学位期间取得的科研成果第64-66页
致谢第66页

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