摘要 | 第4-5页 |
abstract | 第5页 |
第一章 绪论 | 第8-16页 |
1.1 引言 | 第8-10页 |
1.2 电器产品可靠性增长技术概述 | 第10-11页 |
1.3 可靠性增长技术的国内外研究概况 | 第11-14页 |
1.3.1 国外研究概况 | 第11-12页 |
1.3.2 国内研究概况 | 第12-13页 |
1.3.3 可靠性增长技术的应用概况 | 第13-14页 |
1.4 本论文主要工作及研究内容 | 第14-16页 |
第二章 电器产品可靠性增长管理 | 第16-22页 |
2.1 电器产品可靠性增长试验 | 第16页 |
2.2 电器产品可靠性数据收集 | 第16-17页 |
2.3 电器产品可靠性增长管理 | 第17-22页 |
2.3.1 规划管理 | 第17页 |
2.3.2 TAAF过程管理 | 第17-18页 |
2.3.3 可靠性增长管理的其他工作 | 第18-22页 |
第三章 电器产品的可靠性增长模型及参数估计方法 | 第22-44页 |
3.1 威布尔分布 | 第22-23页 |
3.2 齐次泊松过程(HP) | 第23-24页 |
3.3 非齐次泊松过程(NHP) | 第24-25页 |
3.4 Duane模型 | 第25-30页 |
3.4.1 Duane模型的数学描述 | 第25-26页 |
3.4.2 模型参数的图估计法 | 第26-27页 |
3.4.3 模型参数的最小二乘估计法(LSE) | 第27-28页 |
3.4.4 多台电器产品的Duane模型 | 第28-29页 |
3.4.5 Duane模型的拟合优度检验 | 第29-30页 |
3.4.6 电器产品可靠性增长的Duane模型计算实例 | 第30页 |
3.5 AMSAA模型 | 第30-42页 |
3.5.1 AMSAA模型的数学描述 | 第31页 |
3.5.2 电器产品定数截尾AMSAA模型的参数估计 | 第31-36页 |
3.5.3 电器产品定时截尾AMSAA模型的参数估计 | 第36-39页 |
3.5.4 AMSAA模型的拟合优度检验 | 第39-42页 |
3.5.5 电器产品可靠性增长的AMSAA模型计算实例 | 第42页 |
3.6 电器产品可靠性增长模型及其与威布尔分布参数的比较 | 第42-44页 |
第四章 电器产品可靠性增长趋势检验法 | 第44-48页 |
4.1 Laplace检验的基本理论 | 第44-45页 |
4.2 Laplace检验方法 | 第45-48页 |
4.2.1 Laplace检验法的步骤 | 第45页 |
4.2.2 Laplace检验法的统计量 | 第45-47页 |
4.2.3 电器产品可靠性增长趋势检验计算实例 | 第47-48页 |
第五章 结论 | 第48-50页 |
参考文献 | 第50-56页 |
附表1 | 第56-57页 |
附表2 | 第57-59页 |
附表3 | 第59-61页 |
附表4 | 第61-62页 |
附表5 | 第62-64页 |
攻读硕士学位期间取得的科研成果 | 第64-66页 |
致谢 | 第66页 |