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磁敏感成像(SWI)在重度颅脑损伤中应用价值的探讨

前言第4-6页
中文摘要第6-8页
Abstract第8-10页
第1章 绪论第14-22页
    1.1 引言第14-15页
    1.2 综述磁敏感成像(SWI)在重度颅脑损伤中应用价值的探讨第15-22页
        1.2.1 颅脑损伤与重度颅脑损伤第15页
        1.2.2 格拉斯哥昏迷指数与重度颅脑损伤的诊断标准第15-17页
        1.2.3 重度颅脑损伤的发病率、死残率及其早期科学诊断的意义第17-18页
        1.2.4 重度颅脑损伤的重要分类:弥漫性轴索损伤第18页
        1.2.5 创伤性颅脑损伤的辅助检查第18-19页
        1.2.6 SWI的成像原理第19-20页
        1.2.7 重度颅脑损伤患者的早期临床干预第20-21页
        1.2.8 在脑外科领域SWI应用现状第21-22页
第2章 研究对象及方法第22-25页
    2.1 临床资料第22-23页
        2.1.1 纳入标准第22页
        2.1.2 排除标准第22页
        2.1.3 一般资料第22-23页
    2.2 检查方法第23-24页
        2.2.1 仪器设备第23页
        2.2.2 检查程序第23-24页
    2.3 资料分析及统计学处理第24-25页
第3章 结果第25-43页
    3.1 本实验患者发病情况第25-26页
        3.1.1 本实验所选取患者的致伤原因及其所占比例第25页
        3.1.2 男女发病率比较第25-26页
    3.2 重度颅脑损伤患者的SWI及MR常规序列、CT影像学特征第26-27页
    3.3 sTBI患者颅内病灶数目观察第27-32页
    3.4 典型患者影像示例第32-43页
第4章 讨论第43-46页
第5章 结论第46-47页
参考文献第47-51页
作者简介及在学期间所取得的科研成果第51-52页
致谢第52页

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