摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
符号对照表 | 第10-11页 |
缩略语对照表 | 第11-15页 |
第一章 绪论 | 第15-19页 |
1.1 课题研究背景及意义 | 第15-16页 |
1.2 无损检测技术概述 | 第16-17页 |
1.3 本文内容及章节安排 | 第17-19页 |
第二章 激光无损检测技术概述 | 第19-33页 |
2.1 激光无损检测技术概述 | 第19-28页 |
2.1.1 激光超声无损检测技术 | 第19-23页 |
2.1.2 激光全息无损检测技术 | 第23-26页 |
2.1.3 激光散斑无损检测技术 | 第26-28页 |
2.2 激光衍射无损检测技术 | 第28-32页 |
2.2.1 激光衍射无损检测技术概述 | 第28-31页 |
2.2.2 激光衍射无损检测技术优势 | 第31-32页 |
2.3 本章小结 | 第32-33页 |
第三章 基于基尔霍夫衍射仿真计算的镜面瑕疵衍射分析 | 第33-41页 |
3.1 光的衍射 | 第33-39页 |
3.1.1 光的衍射现象 | 第33页 |
3.1.2 惠更斯-菲涅耳原理 | 第33页 |
3.1.3 基尔霍夫衍射 | 第33-37页 |
3.1.4 夫琅禾费衍射 | 第37-39页 |
3.2 基于基尔霍夫衍射的MATLAB仿真算法流程 | 第39页 |
3.3 本章小结 | 第39-41页 |
第四章 基于激光衍射原理瑕疵衍射场特性分析 | 第41-59页 |
4.1 衍射光场算法设计 | 第41-42页 |
4.2 等相位面光场特性分析 | 第42-50页 |
4.2.1 探测屏衍射光场强度特性分析 | 第42-45页 |
4.2.2 探测屏衍射光场相位特性分析 | 第45-47页 |
4.2.3 探测屏衍射光场稳定性结论 | 第47-48页 |
4.2.4 两种探测屏应用偏差分析 | 第48-50页 |
4.3 不同瑕疵尺寸衍射光场特性分析 | 第50-52页 |
4.4 不同瑕疵形状衍射光场特性分析 | 第52-58页 |
4.4.1 正方形瑕疵衍射场分布特性 | 第53-54页 |
4.4.2 长方形瑕疵衍射场分布特性 | 第54-55页 |
4.4.3 十字形瑕疵衍射场分布特性 | 第55-56页 |
4.4.4 圆形瑕疵衍射场分布特性 | 第56-58页 |
4.5 本章小结 | 第58-59页 |
第五章 基于探测屏衍射光场强度分布的镜面瑕疵重现方法 | 第59-69页 |
5.1 长方形瑕疵衍射光场重现结果分析 | 第59-64页 |
5.1.1 宽长比为 0.8 的长方形瑕疵 | 第60-61页 |
5.1.2 宽长比为 0.6 的长方形瑕疵 | 第61-62页 |
5.1.3 宽长比为 0.4 的长方形瑕疵 | 第62-64页 |
5.1.4 长方形瑕疵重现结论 | 第64页 |
5.2 正方形瑕疵衍射光场重现结果分析 | 第64-65页 |
5.3 十字形瑕疵衍射光场重现结果分析 | 第65-66页 |
5.4 圆形瑕疵衍射光场重现结果分析 | 第66-68页 |
5.5 本章小结 | 第68-69页 |
第六章 激光衍射无损检测实验研究 | 第69-75页 |
6.1 激光衍射无损检测实验 | 第69-73页 |
6.1.1 实验器材 | 第69-71页 |
6.1.2 实验方案 | 第71-72页 |
6.1.3 实验结果与分析 | 第72-73页 |
6.2 激光衍射光斑分析 | 第73-74页 |
6.3 激光衍射无损检测实验结论 | 第74页 |
6.4 本章小结 | 第74-75页 |
第七章 总结与展望 | 第75-77页 |
7.1 研究工作总结 | 第75-76页 |
7.2 研究工作展望 | 第76-77页 |
参考文献 | 第77-81页 |
致谢 | 第81-83页 |
作者简介 | 第83-84页 |
1.基本情况 | 第83页 |
2.教育背景 | 第83-84页 |