| 摘要 | 第5-8页 |
| ABSTRACT | 第8-10页 |
| 第一章 绪论 | 第16-25页 |
| 1.1 高速光传输的发展方向 | 第16-17页 |
| 1.2 OTDM 及其关键技术 | 第17-21页 |
| 1.2.1 超短光脉冲生成技术 | 第18页 |
| 1.2.2 全光时分复用技术 | 第18页 |
| 1.2.3 全光解复用技术 | 第18-19页 |
| 1.2.4 高速光信号的损伤检测和损伤抑制技术 | 第19-20页 |
| 1.2.5 全光时钟恢复技术 | 第20页 |
| 1.2.6 全光2R/3R 再生技术 | 第20-21页 |
| 1.3 光信号处理的核心问题 | 第21-22页 |
| 1.4 OTDM 的研究现状 | 第22-23页 |
| 1.5 本文的研究内容和创新之处 | 第23-25页 |
| 第二章 SOA 仿真模型及其在光开关分析中的应用 | 第25-44页 |
| 2.1 SOA 数学描述模型 | 第25-37页 |
| 2.1.1 窄带小信号模型 | 第25-27页 |
| 2.1.2 宽带大信号模型 | 第27-31页 |
| 2.1.3 多波耦合模型 | 第31-35页 |
| 2.1.4 SOA 的FWM 描述模型 | 第35-37页 |
| 2.2 SOA 模型算法 | 第37-43页 |
| 2.2.1 波前算法 | 第37-39页 |
| 2.2.2 系统模型 | 第39-43页 |
| 2.3 本章小结 | 第43-44页 |
| 第三章 基于SOA 相位调制效应的解复用技术 | 第44-79页 |
| 3.1 基于XPM 效应的光开关 | 第44-50页 |
| 3.1.1 交叉相位光开关的原理 | 第45页 |
| 3.1.2 交叉相位光开关的结构 | 第45-46页 |
| 3.1.3 光开关的传输函数 | 第46-48页 |
| 3.1.4 现有光开关性能描述参数及其局限性 | 第48-49页 |
| 3.1.5 EICR 和CICR 描述光开关性能的优势 | 第49-50页 |
| 3.2 SOA 的相位起伏和增益起伏 | 第50-55页 |
| 3.2.1 相位起伏和增益起伏的关系 | 第50-53页 |
| 3.2.2 αN 及αeff 的性质 | 第53-55页 |
| 3.3 近波长光开关解复用性能分析 | 第55-71页 |
| 3.3.1 近波长光开关原理 | 第55-56页 |
| 3.3.2 近波长光开关解复用性能 | 第56-71页 |
| 3.4 同频光开关解复用性能分析 | 第71-74页 |
| 3.4.1 同频光开关原理 | 第71-73页 |
| 3.4.2 同频光开关解复用性能 | 第73-74页 |
| 3.5 远波长光开关解复用性能分析 | 第74-75页 |
| 3.5.1 远波长光开关原理 | 第74页 |
| 3.5.2 远波长光开关解复用性能 | 第74-75页 |
| 3.6 三种光开关解复用性能分析小结 | 第75页 |
| 3.7 进一步的工作方向 | 第75-76页 |
| 3.8 本章小结 | 第76-79页 |
| 第四章 基于SOA 频移效应的解复用技术 | 第79-89页 |
| 4.1 基于XGM 效应的解复用 | 第79-81页 |
| 4.2 FWM 效应 | 第81-83页 |
| 4.3 基于FWM 效应的解复用 | 第83-87页 |
| 4.4 新型移频效应光开关 | 第87-88页 |
| 4.5 本章小结 | 第88-89页 |
| 第五章 色散监测技术 | 第89-111页 |
| 5.1 光损伤监测技术 | 第89-92页 |
| 5.2 PM-AM 转换色散监测 | 第92-105页 |
| 5.2.1 工作原理 | 第92-96页 |
| 5.2.2 理论模型 | 第96-97页 |
| 5.2.3 实验结果 | 第97-104页 |
| 5.2.4 结论 | 第104-105页 |
| 5.3 边带功率监测方案 | 第105-111页 |
| 5.3.1 工作原理 | 第105-107页 |
| 5.3.2 技术方案 | 第107-109页 |
| 5.3.3 实验结果 | 第109-111页 |
| 第六章 总结与展望 | 第111-114页 |
| 6.1 研究工作总结 | 第111-112页 |
| 6.2 进一步的研究方向 | 第112-114页 |
| 参考文献 | 第114-124页 |
| 致谢 | 第124-125页 |
| 攻读博士学位期间发表的学术论文和申请的专利 | 第125-126页 |