摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第11-17页 |
本章主要内容 | 第11-12页 |
1.1 多相流概述 | 第12页 |
1.2 鼓泡床概述 | 第12-13页 |
1.3 过程层析成像技术概述 | 第13-14页 |
1.4 电容耦合非接触电导检测技术简介 | 第14页 |
1.5 本文主要工作和结构安排 | 第14-16页 |
1.6 本章小结 | 第16-17页 |
第二章 文献综述 | 第17-31页 |
本章主要内容 | 第17-18页 |
2.1 C~4D技术综述 | 第18-22页 |
2.1.1 C~4D技术的基本原理与系统结构 | 第18-19页 |
2.1.2 C~4D技术的发展历史与研究现状 | 第19-22页 |
2.2 CCERT技术综述 | 第22-24页 |
2.2.1 ERT技术概述 | 第22-23页 |
2.2.2 CCERT技术的基本原理 | 第23-24页 |
2.3 多相流体系相含率检测方法 | 第24-27页 |
2.4 信号分析与处理方法 | 第27-30页 |
2.4.1 主成分分析与主成分回归 | 第27-28页 |
2.4.2 偏最小二乘法与偏最小二乘回归 | 第28-29页 |
2.4.3 傅里叶变换 | 第29页 |
2.4.4 小波分析 | 第29-30页 |
2.5 本章小结 | 第30-31页 |
第三章 基于DPSD的CCERT系统原理与设计 | 第31-45页 |
本章主要内容 | 第31-32页 |
3.1 基于DPSD的CCERT系统的测量原理与系统架构 | 第32-35页 |
3.1.1 数字相敏解调技术测量原理 | 第32-34页 |
3.1.2 基于DPSD的CCERT系统架构 | 第34-35页 |
3.2 传感器结构 | 第35-36页 |
3.3 系统硬件设计 | 第36-40页 |
3.3.1 电源模块 | 第37-38页 |
3.3.2 激励与检测模块 | 第38-39页 |
3.3.3 FPGA激励信号产生模块 | 第39-40页 |
3.3.4 FPGA数字相敏解调模块 | 第40页 |
3.4 系统软件设计 | 第40-42页 |
3.5 本章小结 | 第42-45页 |
第四章 基于CCERT系统的气液两相流相含率测量 | 第45-59页 |
本章主要内容 | 第45-46页 |
4.1 引言 | 第46页 |
4.2 两相流静态相含率测量实验 | 第46-53页 |
4.2.1 相含率测量模型 | 第47-50页 |
4.2.2 相含率测量静态实验 | 第50-53页 |
4.3 鼓泡床动态相含率测量实验 | 第53-56页 |
4.4 气液两相流动态成像 | 第56-57页 |
4.5 本章小结 | 第57-59页 |
第五章 鼓泡床中的气液固三相流相含率测量 | 第59-73页 |
本幸主要内容 | 第59-60页 |
5.1 引言 | 第60-61页 |
5.2 基于声发射技术的气相含率测量模型 | 第61-67页 |
5.2.1 实验装置 | 第61-62页 |
5.2.2 声信号分析与处理 | 第62-66页 |
5.2.3 声发射气液两相流相含率测量实验 | 第66-67页 |
5.3 基于CCERT与声发射技术的三相流相含率测量 | 第67-70页 |
5.3.1 实验装置与测量原理 | 第67-68页 |
5.3.2 三相流相含率测量实验与结果分析 | 第68-70页 |
5.4 本章小结 | 第70-73页 |
第六章 总结和展望 | 第73-75页 |
参考文献 | 第75-81页 |
致谢 | 第81-83页 |
个人简历 | 第83-85页 |
攻读硕士学位期间所取得的科研成果 | 第85页 |