| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第12-29页 |
| 1.1 数值化分析与符号化分析 | 第12-13页 |
| 1.2 符号化分析现状 | 第13-14页 |
| 1.3 基于二分判定图的符号化分析法 | 第14-22页 |
| 1.3.1 二分判定图（Binary Decision Diagram） | 第14-17页 |
| 1.3.2 行列式判定图（Determinant Decision Diagram） | 第17-19页 |
| 1.3.3 图对判定图（Graph-Pair Decision Diagram） | 第19-21页 |
| 1.3.4 对消项（Cancelling Term） | 第21-22页 |
| 1.4 基于二分判定图的层次化符号分析方法 | 第22-27页 |
| 1.4.1 舒尔分解（Schur Decomposition） | 第22-24页 |
| 1.4.2 符号化导纳矩阵（Symbolic Stamp） | 第24-27页 |
| 1.5 课题提出和研究意义 | 第27-29页 |
| 第二章 无对消项层次化符号分析方法 | 第29-37页 |
| 2.1 多端口器件 | 第29-31页 |
| 2.2 层次化电路 | 第31-33页 |
| 2.3 层次符号化分析 | 第33-36页 |
| 2.4 本章小结 | 第36-37页 |
| 第三章 无对消项层次化符号仿真器的实现 | 第37-47页 |
| 3.1 仿真器架构 | 第37-38页 |
| 3.2 层次化网表分析器 | 第38-39页 |
| 3.3 子电路数据结构 | 第39-42页 |
| 3.4 电路模块求值 | 第42-43页 |
| 3.5 层次化 S 系数展开 | 第43-46页 |
| 3.6 本章小结 | 第46-47页 |
| 第四章 实验结果 | 第47-60页 |
| 4.1 仿真器工作流程 | 第47-48页 |
| 4.2 交流分析测试 | 第48-57页 |
| 4.2.1 Bipolar 电路测试 | 第48-53页 |
| 4.2.2 MOSFET 电路测试 | 第53-57页 |
| 4.3 S 系数展开测试 | 第57-59页 |
| 4.4 本章小结 | 第59-60页 |
| 第五章 结束语 | 第60-62页 |
| 5.1 主要工作与创新点 | 第60-61页 |
| 5.2 后续研究工作 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-64页 |
| 致谢 | 第64-66页 |
| 攻读硕士学位期间已发表或录用的论文 | 第66页 |
