| 中文摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 第一章 绪论 | 第12-61页 |
| 1.1 化学传感器 | 第12-13页 |
| 1.1.1 化学传感器简介 | 第12页 |
| 1.1.2 化学传感器的工作原理 | 第12-13页 |
| 1.1.3 化学传感器的分类 | 第13页 |
| 1.2 气体传感器 | 第13-15页 |
| 1.2.1 气体传感器简介 | 第13-14页 |
| 1.2.2 气体传感器分类 | 第14-15页 |
| 1.3 半导体气敏传感器 | 第15-30页 |
| 1.3.1 半导体气体传感器简介 | 第15-16页 |
| 1.3.2 半导体金属氧化物气体传感器 | 第16-18页 |
| 1.3.3 半导体金属氧化物气体传感器工作机理 | 第18-20页 |
| 1.3.4 影响半导体金属氧化物气体传感器灵敏性的因素 | 第20-30页 |
| 1.4 半导体纳米材料气敏传感器 | 第30-40页 |
| 1.4.1 纳米材料的特性及合成方法 | 第30-33页 |
| 1.4.2 基于纳米材料的气体传感器的研究现状和应用前景 | 第33-40页 |
| 1.5 基于表面增强拉曼（SERS）的化学传感器 | 第40-46页 |
| 1.5.1 SERS的简介 | 第40-41页 |
| 1.5.2 SERS的机理 | 第41-42页 |
| 1.5.3 基于纳米材料的SERS化学传感器 | 第42-46页 |
| 1.6 本课题的立题依据和主要研究内容 | 第46-47页 |
| 1.6.1 选题的目的和意义 | 第46-47页 |
| 1.6.2 研究内容 | 第47页 |
| 1.7 参考文献 | 第47-61页 |
| 第二章 In_2O_3/CuO多层纳米多孔薄膜的合成、表征及气敏性能研究 | 第61-81页 |
| 2.1 引言 | 第61-62页 |
| 2.2 实验 | 第62-66页 |
| 2.2.1 实验材料 | 第62-63页 |
| 2.2.2 实验仪器 | 第63页 |
| 2.2.3 具有p-n异质结构的In_2O_3/CuO多层多孔薄膜的制备 | 第63-64页 |
| 2.2.4 多层In_2O_3/CuO多孔薄膜材料的气敏性能的测试 | 第64-65页 |
| 2.2.5 近常压XPS对多孔气敏材料的机理的测试 | 第65-66页 |
| 2.3 实验结果与讨论 | 第66-75页 |
| 2.3.1 多层多孔In_2O_3/CuO薄膜的形貌与成分分析 | 第66-69页 |
| 2.3.2 多层多孔In_2O_3/CuO薄膜的气敏性能的测试 | 第69-71页 |
| 2.3.3 多孔In_2O_3/CuO薄膜p-n异质结对气敏性能的影响 | 第71-73页 |
| 2.3.4 多孔In_2O_3/CuO薄膜的层数对气敏性能的影响 | 第73-74页 |
| 2.3.5 近常压XPS对In_2O_3/CuO多孔薄膜的气敏机理的实时研究 | 第74-75页 |
| 2.4 本章小结 | 第75-76页 |
| 2.5 参考文献 | 第76-81页 |
| 第三章 基于六边形Co_3O_4纳米片纳米材料的气体传感器 | 第81-104页 |
| 3.1 引言 | 第81-82页 |
| 3.2 实验 | 第82-85页 |
| 3.2.1 实验材料 | 第82-83页 |
| 3.2.2 实验仪器 | 第83页 |
| 3.2.3 Cr修饰的六边形Co_3O_4纳米片的制备 | 第83-84页 |
| 3.2.4 ZnO纳米颗粒修饰的六边形Co_3O_4纳米片的制备 | 第84页 |
| 3.2.5 材料的表征及气敏性能的测试 | 第84-85页 |
| 3.3 实验结果与讨论 | 第85-98页 |
| 3.3.1 基于Cr修饰的六边形Co_3O_4纳米片的气体传感器 | 第85-93页 |
| 3.3.2 基于ZnO纳米颗粒修饰的六边形Co_3O_4纳米片的气体传感器 | 第93-98页 |
| 3.4 本章小结 | 第98页 |
| 3.5 参考文献 | 第98-104页 |
| 第四章 Au纳米圆盘表面增强拉曼基底的制备及对化学分子检测的研究 | 第104-121页 |
| 4.1 引言 | 第104-105页 |
| 4.2 实验 | 第105-108页 |
| 4.2.1 实验材料 | 第105页 |
| 4.2.2 实验仪器 | 第105-106页 |
| 4.2.3 Au纳米圆盘阵列的制备 | 第106-107页 |
| 4.2.4 Au纳米圆盘的表征 | 第107页 |
| 4.2.5 Au纳米圆盘对化学分子的检测 | 第107-108页 |
| 4.4 实验结果与讨论 | 第108-116页 |
| 4.4.1 10 nm Au纳米圆盘对R6G分子的检测 | 第108-111页 |
| 4.4.2 Au纳米圆盘的直径对R6G分子的检测的影响 | 第111-113页 |
| 4.4.3 Au纳米圆盘厚度对分子检测的影响 | 第113-115页 |
| 4.4.4 Au/Ag双金属结构对分子检测的影响 | 第115-116页 |
| 4.5 本章小结 | 第116-117页 |
| 4.6 参考文献 | 第117-121页 |
| 第五章 Ag纳米颗粒修饰的Si纳米锥的制备及对化学分子检测性能研究 | 第121-135页 |
| 5.1 引言 | 第121-122页 |
| 5.2 实验 | 第122-124页 |
| 5.2.1 实验材料 | 第122页 |
| 5.2.2 实验仪器 | 第122-123页 |
| 5.2.3 Ag纳米颗粒修饰的Si纳米锥结构的制备 | 第123-124页 |
| 5.2.4 Ag纳米颗粒修饰的Si纳米锥对化学分子的检测 | 第124页 |
| 5.3 实验结果与讨论 | 第124-131页 |
| 5.3.1 Ag薄膜的厚度与形成的纳米颗粒大小的关系 | 第124-126页 |
| 5.3.2 Ag纳米颗粒的大小对化学物质检测的影响 | 第126-129页 |
| 5.3.3 Ag/Au纳米颗粒的形成对化学物质检测稳定性的影响 | 第129-131页 |
| 5.4 本章小结 | 第131-132页 |
| 5.5 参考文献 | 第132-135页 |
| 第六章 全文总结 | 第135-137页 |
| 攻读学位期间本人公开发表的论著、论文 | 第137-139页 |
| 致谢 | 第139-141页 |
