| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 1绪论 | 第9-17页 |
| 1.1 石膏样品的性质 | 第9-12页 |
| 1.1.1 地质石膏样品的性质 | 第9-10页 |
| 1.1.2 工业石膏样品的性质 | 第10-12页 |
| 1.2 样品的分解 | 第12-13页 |
| 1.2.1 地质样品分解方法 | 第12-13页 |
| 1.2.2 石膏样品的分解 | 第13页 |
| 1.3 岩矿测试现状 | 第13-17页 |
| 2 实验仪器基本结构及在地质学中的应用 | 第17-32页 |
| 2.1 等离子体发射光谱法（ICP-AES）的原理和特点 | 第17-18页 |
| 2.1.1 ICP光谱仪工作原理 | 第17页 |
| 2.1.2 ICP光谱仪特点 | 第17-18页 |
| 2.2 ICP光谱仪结构 | 第18-24页 |
| 2.2.1 进样系统 | 第19页 |
| 2.2.2 蠕动泵 | 第19-20页 |
| 2.2.3 雾化器 | 第20-21页 |
| 2.2.4 雾化室 | 第21-22页 |
| 2.2.5 电感耦合等离子体 | 第22-23页 |
| 2.2.6 检测器 | 第23-24页 |
| 2.3 ICP-AES在岩矿测试中的应用 | 第24页 |
| 2.4 等离子体质谱法(ICP-MS)的背景和原理 | 第24-25页 |
| 2.4.1 等离子体质谱仪的发展背景 | 第24-25页 |
| 2.4.2 等离子体质谱法（ICPMS ）的原理 | 第25页 |
| 2.5 等离子体质谱仪的基本结构 | 第25-31页 |
| 2.5.1 进样系统 | 第26页 |
| 2.5.2 电感耦合等离子体 | 第26-27页 |
| 2.5.3 等离子体质谱仪的接. | 第27-29页 |
| 2.5.4 离子透镜系统 | 第29页 |
| 2.5.5 四级杆质量分析器 | 第29-30页 |
| 2.5.6 ICAP Q型ICPMS离子倍增器及检测器 | 第30-31页 |
| 2.6 等离子体质谱仪在地学研究中的应用 | 第31-32页 |
| 3 实验部分 | 第32-37页 |
| 3.1 主要仪器及试剂 | 第32-33页 |
| 3.1.1 主要仪器 | 第32页 |
| 3.1.2 主要试剂 | 第32-33页 |
| 3.2 样品处理 | 第33页 |
| 3.3 样品分析 | 第33-37页 |
| 3.3.1 ICPAES测定钙、镁、硫、等元素 | 第33-34页 |
| 3.3.2 ICPMS测定锂、铯、铬、锌、等元素 | 第34-35页 |
| 3.3.3 分析数据质量控制 | 第35-37页 |
| 4 结果与讨论 | 第37-57页 |
| 4.1 试样分解 | 第37-38页 |
| 4.2 谱线选择 | 第38-39页 |
| 4.3 ICP-MS元素的选择质量数 | 第39-40页 |
| 4.4 ICP-AES仪器参数优化 | 第40-50页 |
| 4.4.1 ICPAES仪器参数优化 | 第40-43页 |
| 4.4.2 影响信号强度的因素 | 第43-47页 |
| 4.4.3 ICPAES谱线干扰及干扰元素校正 | 第47-50页 |
| 4.5 ICPMS仪器条件优化 | 第50-52页 |
| 4.5.1 工作参数的优化 | 第50-51页 |
| 4.5.2 干扰和校正 | 第51页 |
| 4.5.3 内标元素的选择 | 第51-52页 |
| 4.6 方法的技术指标 | 第52-57页 |
| 4.6.1 方法的检出限及测定限 | 第52-53页 |
| 4.6.2 方法准确度和精密度 | 第53-55页 |
| 4.6.3 方法加标回收率 | 第55-57页 |
| 结论 | 第57-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-62页 |
| 附录 | 第62页 |
