FDD LTE基站收发模块射频性能测试与调试
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-10页 |
| 第一章绪论 | 第10-15页 |
| ·课题背景 | 第10-12页 |
| ·第四代移动通信系统的发展与主要特点 | 第10-11页 |
| ·LTE 发展现状 | 第11-12页 |
| ·课题的意义、研究内容和目标 | 第12-13页 |
| ·课题的主要内容与章节安排 | 第13-15页 |
| 第二章 基站收发模块的系统构成与关键技术 | 第15-22页 |
| ·基站收发机基本射频结构与特点 | 第15-16页 |
| ·发射机 | 第15-16页 |
| ·接收机 | 第16页 |
| ·FDD LTE 系统射频收发模块关键技术与应用 | 第16-18页 |
| ·FDD LTE 射频收发模块研发设计基本结构 | 第18-21页 |
| ·射频发射模块 | 第18-19页 |
| ·射频接收模块 | 第19-20页 |
| ·反馈链路与数字预失真 | 第20-21页 |
| ·环路测试 | 第21页 |
| ·本章小结 | 第21-22页 |
| 第三章 测试环境与系统平台 | 第22-29页 |
| ·综述 | 第22页 |
| ·测试条件 | 第22-23页 |
| ·测试系统平台与设备 | 第23-28页 |
| ·本章小结 | 第28-29页 |
| 第四章 发射模块射频性能测试与调试 | 第29-52页 |
| ·综述 | 第29页 |
| ·发射模块射频输出测试与调试 | 第29-45页 |
| ·直流电压与电流消耗 | 第29-30页 |
| ·动态范围与发射增益 | 第30-32页 |
| ·平坦度与频率响应 | 第32-34页 |
| ·邻道泄漏功率比（ACLR） | 第34-36页 |
| ·频谱发射掩膜（SEM） | 第36-40页 |
| ·杂散发射 | 第40-43页 |
| ·调制EVM 与频率误差 | 第43-45页 |
| ·峰值码域误差（PCDE） | 第45页 |
| ·发射模块本振信号测试与调试 | 第45-51页 |
| ·直流电压与电流消耗 | 第45-46页 |
| ·告警逻辑功能 | 第46页 |
| ·频率范围 | 第46页 |
| ·输出功率与谐波 | 第46-48页 |
| ·单边带相位噪声 | 第48-50页 |
| ·杂散 | 第50-51页 |
| ·注入锁定 | 第51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 第五章 接收模块射频性能测试与调试 | 第52-64页 |
| ·综述 | 第52页 |
| ·接收模块射频测试与调试 | 第52-58页 |
| ·直流电压与电流消耗 | 第52-53页 |
| ·输入回波损耗 | 第53-55页 |
| ·灵敏度与增益 | 第55-57页 |
| ·接收通道间隔离度 | 第57-58页 |
| ·接收模块本振信号测试与调试 | 第58-63页 |
| ·告警逻辑功能 | 第58页 |
| ·频率范围 | 第58页 |
| ·单边带相位噪声 | 第58-60页 |
| ·杂散 | 第60-62页 |
| ·锁定时间 | 第62页 |
| ·注入锁定 | 第62-63页 |
| ·本章小结 | 第63-64页 |
| 第六章 反馈链路射频性能测试与调试 | 第64-70页 |
| ·综述 | 第64页 |
| ·反馈链路射频接收性能测试与调试 | 第64-69页 |
| ·直流电压 | 第64-65页 |
| ·邻道泄漏功率比（ACLR） | 第65-66页 |
| ·反馈链路频率响应 | 第66-69页 |
| ·输入输出口的谐波与杂散 | 第69页 |
| ·本章小结 | 第69-70页 |
| 第七章 测试环路射频性能测试与调试 | 第70-80页 |
| ·综述 | 第70页 |
| ·本振信号性能测试与调试 | 第70-75页 |
| ·频率合成器参考时钟幅度 | 第70页 |
| ·告警逻辑功能 | 第70-71页 |
| ·锁定时间 | 第71页 |
| ·频率范围 | 第71-72页 |
| ·单边带相位噪声 | 第72-74页 |
| ·本振信号杂散 | 第74-75页 |
| ·本振幅度 | 第75页 |
| ·射频测试环路总体测试与调试 | 第75-79页 |
| ·频率响应与转换损耗 | 第75-76页 |
| ·信号泄漏 | 第76-77页 |
| ·反馈链路混频器输入的杂散发射 | 第77-78页 |
| ·接收链路耦合器的杂散发射 | 第78页 |
| ·频率误差、EVM 和RMS 相位误差 | 第78-79页 |
| ·本章小结 | 第79-80页 |
| 第八章 全文总结 | 第80-82页 |
| ·主要结论 | 第80页 |
| ·研究展望 | 第80-82页 |
| 参考文献 | 第82-84页 |
| 缩略语表（附录1） | 第84-85页 |
| 测试平台与仪器相关重要指标（附录2） | 第85-88页 |
| 致谢 | 第88-89页 |
| 攻读硕士学位期间已发表或录用的论文 | 第89-90页 |
| 附件 | 第90-92页 |
