单片集成式电化学测试系统电路的研究
中文摘要 | 第1-4页 |
英文摘要 | 第4-8页 |
1 绪论 | 第8-14页 |
·引言 | 第8-9页 |
·国内外研究现状 | 第9-12页 |
·研究的主要内容 | 第12-14页 |
2 CMOS 恒电位仪 | 第14-28页 |
·电化学分析原理 | 第14-15页 |
·电流式恒电位仪结构 | 第15-17页 |
·简单的电极等效电路模型 | 第17-18页 |
·CMOS 恒电位仪电路的设计 | 第18-28页 |
·标准三电极恒电位仪结构 | 第18-19页 |
·基于电流镜的恒电位仪结构 | 第19-21页 |
·恒电位仪的电路设计 | 第21-22页 |
·控制Op-amp | 第22-24页 |
·仿真结果 | 第24-28页 |
3 片上激励信号转换器 DAC 的设计 | 第28-52页 |
·DAC 的主要性能指标 | 第28-30页 |
·静态性能指标 | 第28-30页 |
·动态性能指标 | 第30页 |
·DAC 的种类 | 第30-33页 |
·电压型DAC | 第31页 |
·开关电容型DAC | 第31-32页 |
·电流型DAC | 第32页 |
·温度计码DAC | 第32-33页 |
·10 位DAC 电路结构的选取 | 第33-35页 |
·10 位DAC 电路的设计 | 第35-45页 |
·6 位温度计码DAC | 第36页 |
·温度计编码电路 | 第36-41页 |
·CMOS 差分开关的设计 | 第41-43页 |
·单位电流源电路的设计 | 第43-45页 |
·DAC 中单位电流源完整电路 | 第45页 |
·DAC 的仿真 | 第45-49页 |
·低四位和高六位的仿真 | 第45-46页 |
·10 位DAC 的仿真 | 第46-47页 |
·DNL 和INL | 第47-48页 |
·DAC 的建立时间 | 第48-49页 |
·DAC 的功耗 | 第49页 |
·电化学测试系统电路的仿真 | 第49-52页 |
4 版图设计 | 第52-68页 |
·恒电位仪的版图设计 | 第52-53页 |
·片上激励信号转换器的版图设计 | 第53-68页 |
·DAC 电路版图的整体布局 | 第53-57页 |
·电流源设计 | 第57-58页 |
·温度计码电流源版图 | 第58-59页 |
·温度计码编码电路版图 | 第59-65页 |
·单片集成式电化学感测系统电路的整体版图 | 第65-68页 |
5 总结与展望 | 第68-70页 |
致谢 | 第70-72页 |
参考文献 | 第72-76页 |
附录 | 第76页 |