绝对式液晶光栅尺测量系统研究
| 致谢 | 第4-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 1 绪论 | 第11-19页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第11页 |
| 1.2 绝对式光栅尺测量系统研究现状 | 第11-15页 |
| 1.2.1 多码道绝对位置编码测量技术 | 第12-14页 |
| 1.2.2 单码道绝对位置编码测量技术 | 第14-15页 |
| 1.3 光栅细分技术研究现状 | 第15-17页 |
| 1.4 本文研究内容 | 第17-19页 |
| 2 绝对式液晶光栅尺测量系统原理 | 第19-50页 |
| 2.1 绝对式液晶光栅尺测量模型 | 第19-20页 |
| 2.2 绝对式液晶光栅尺信号发生模块 | 第20-27页 |
| 2.2.1 液晶光栅尺的空间均匀性 | 第20-22页 |
| 2.2.2 绝对式液晶光栅尺的编码设计 | 第22-27页 |
| 2.3 绝对式液晶光栅尺采样模块 | 第27-29页 |
| 2.3.1 像素级细分物理模型 | 第27-28页 |
| 2.3.2 亚像素级细分物理模型 | 第28-29页 |
| 2.4 绝对式液晶光栅尺图像处理模块 | 第29-49页 |
| 2.4.1 定位数学模型 | 第29-32页 |
| 2.4.1.1 像素级细分定位数学模型 | 第29-31页 |
| 2.4.1.2 亚像素级细分定位数学模型 | 第31-32页 |
| 2.4.1.3 细分距计算模型 | 第32页 |
| 2.4.2 定位流程 | 第32-34页 |
| 2.4.2.1 基于边缘基点的定位流程 | 第33页 |
| 2.4.2.2 基于中心峰基点的定位流程 | 第33-34页 |
| 2.4.3 液晶光栅尺区域提取算法 | 第34-36页 |
| 2.4.4 纵向码道识别 | 第36-37页 |
| 2.4.5 图像去噪算法 | 第37-41页 |
| 2.4.5.1 高斯去噪 | 第38-40页 |
| 2.4.5.2 整直去噪 | 第40-41页 |
| 2.4.6 边缘基点定位算法 | 第41-46页 |
| 2.4.6.1 缓变边缘区域定位 | 第41-43页 |
| 2.4.6.2 面积比例法边缘基点定位 | 第43-46页 |
| 2.4.7 中心峰基点定位算法 | 第46-48页 |
| 2.4.8 标定算法 | 第48-49页 |
| 2.5 本章小结 | 第49-50页 |
| 3 液晶光栅尺测量系统的硬件部分 | 第50-57页 |
| 3.1 系统性能参数分析 | 第50-52页 |
| 3.1.1 分辨率 | 第50-51页 |
| 3.1.2 量程 | 第51-52页 |
| 3.1.3 精度 | 第52页 |
| 3.2 硬件的选型 | 第52-54页 |
| 3.2.1 液晶屏的选型 | 第52-53页 |
| 3.2.2 相机和镜头的选型 | 第53-54页 |
| 3.2.3 处理系统的选型 | 第54页 |
| 3.3 系统的整体结构设计 | 第54-55页 |
| 3.4 本章小结 | 第55-57页 |
| 4 液晶光栅尺测量系统的软件部分 | 第57-64页 |
| 4.1 功能分析 | 第57页 |
| 4.2 功能模块划分 | 第57-60页 |
| 4.3 界面设计及操作 | 第60-62页 |
| 4.4 本章小结 | 第62-64页 |
| 5 静态实验分析 | 第64-73页 |
| 5.1 图像中液晶光栅尺区域提取分析实验 | 第65-66页 |
| 5.2 缓变边缘区域定位算法分析实验 | 第66-69页 |
| 5.3 边缘基点定位算法分析实验 | 第69-71页 |
| 5.4 中心峰基点定位算法分析实验 | 第71-72页 |
| 5.5 本章小结 | 第72-73页 |
| 6 动态测试实验分析 | 第73-86页 |
| 6.1 视场最佳亮度分析实验 | 第74-76页 |
| 6.2 液晶光栅尺最佳成像距离分析实验 | 第76-77页 |
| 6.3 平行度实验 | 第77-79页 |
| 6.4 标定实验 | 第79-80页 |
| 6.5 图像采样波动分析 | 第80-82页 |
| 6.6 动态定位实验 | 第82-85页 |
| 6.7 本章小结 | 第85-86页 |
| 7 总结与展望 | 第86-88页 |
| 7.1 主要研究成果 | 第86页 |
| 7.2 研究展望 | 第86-88页 |
| 参考文献 | 第88-91页 |
| 作者简介 | 第91页 |
