| 致谢 | 第5-7页 |
| 摘要 | 第7-9页 |
| ABSTRACT | 第9-11页 |
| 第1章 绪论 | 第23-46页 |
| 1.1 引言 | 第23-24页 |
| 1.2 LCI技术简介 | 第24-30页 |
| 1.2.1 频域LCI技术 | 第26-28页 |
| 1.2.2 时域LCI技术 | 第28-30页 |
| 1.3 时域扫描型LCI检测系统的研究进展 | 第30-36页 |
| 1.3.1 在测试限制条件和检测精度方面的研究进展 | 第30-33页 |
| 1.3.2 在应用拓展方面的研究进展 | 第33-36页 |
| 1.4 本文的创新点和主要内容 | 第36-37页 |
| 参考文献 | 第37-46页 |
| 第2章 时域扫描型LCI检测系统的搭建 | 第46-64页 |
| 2.1 理论基础 | 第46-48页 |
| 2.2 实验检测系统 | 第48-53页 |
| 2.2.1 双光源模块 | 第49-51页 |
| 2.2.2 光纤延时线 | 第51页 |
| 2.2.3 光纤型相关器件 | 第51-52页 |
| 2.2.4 光电探测和数据采集模块 | 第52-53页 |
| 2.3 数据处理方案 | 第53-57页 |
| 2.3.1 噪声处理算法 | 第53-56页 |
| 2.3.2 信息提取算法 | 第56-57页 |
| 2.3.3 关键性能参数 | 第57页 |
| 2.4 时域扫描型LCI检测系统的实验评估 | 第57-61页 |
| 2.4.1 玻璃基MZI作为待测器件的实验结果 | 第58-59页 |
| 2.4.2 实验结果的可靠性分析 | 第59-61页 |
| 2.4.3 “检测——矫正——再检测”检测方案 | 第61页 |
| 2.5 本章小结 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-64页 |
| 第3章 相位检测精度的影响因素 | 第64-76页 |
| 3.1 引言 | 第64页 |
| 3.2 关于相位测试精度的影响因素的概述 | 第64页 |
| 3.3 温度波动导致的累积效应 | 第64-73页 |
| 3.3.1 待测器件的基本参数 | 第65-66页 |
| 3.3.2 累积效应的理论分析 | 第66-68页 |
| 3.3.3 累积效应的实验研究与抑制方法 | 第68-73页 |
| 3.4 本章小结 | 第73页 |
| 参考文献 | 第73-76页 |
| 第4章 用于片上PDM、CWDM技术的单模传输型器件的检测分析 | 第76-101页 |
| 4.1 引言 | 第76-77页 |
| 4.2 实验检测系统 | 第77-79页 |
| 4.2.1 时域扫描型LCI实验系统 | 第77-78页 |
| 4.2.2 端面对准测试台 | 第78-79页 |
| 4.3 用作PDM技术信道的单模波导的偏振特性研究 | 第79-90页 |
| 4.3.1 波导结构以及制作 | 第79-80页 |
| 4.3.2 单模波导中的模式仿真 | 第80-81页 |
| 4.3.3 基于时域扫描型LCI检测方法的实验研究 | 第81-86页 |
| 4.3.4 TE模干涉图中的噪声分析 | 第86-90页 |
| 4.4 CWDM器件的表征研究 | 第90-97页 |
| 4.4.1 器件结构与理论分析 | 第90-94页 |
| 4.4.2 基于时域扫描型LCI检测方法的实验分析 | 第94-97页 |
| 4.5 本章小结 | 第97页 |
| 参考文献 | 第97-101页 |
| 第5章 片上MDM技术的信道分析 | 第101-121页 |
| 5.1 引言 | 第101-102页 |
| 5.2 多模波导模式分析的理论基础 | 第102-103页 |
| 5.3 多模直波导的模式分析 | 第103-110页 |
| 5.3.1 两模式直波导中的模式检测 | 第103-108页 |
| 5.3.2 多个模式波导中的模式检测 | 第108-110页 |
| 5.4 存在弯曲的多模波导的串扰研究 | 第110-116页 |
| 5.4.1 存在弯曲的多模波导的结构 | 第110-111页 |
| 5.4.2 曲率半径为5μm的多模波导的实验分析 | 第111-115页 |
| 5.4.3 不同的曲率半径对串扰的影响 | 第115-116页 |
| 5.5 本章小结 | 第116-117页 |
| 参考文献 | 第117-121页 |
| 第6章 总结和展望 | 第121-125页 |
| 6.1 总结 | 第121-123页 |
| 6.2 工作中的不足与展望 | 第123-125页 |
| 作者简历及攻读博士学位期间的研究成果 | 第125-126页 |
