| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-24页 |
| ·引言 | 第10页 |
| ·课题的研究背景和意义 | 第10-13页 |
| ·生命初态信息特征表示方法的研究现状 | 第13-16页 |
| ·基于分段的表示方法 | 第13-14页 |
| ·基于符号化的表示方法 | 第14页 |
| ·基于域变换的特征表示 | 第14-15页 |
| ·其他的表示方法 | 第15-16页 |
| ·寿命预测技术的研究现状 | 第16-21页 |
| ·基于模型的寿命预测技术 | 第16-17页 |
| ·基于数据驱动的寿命预测技术 | 第17-18页 |
| ·基于统计可靠性的寿命预测技术 | 第18-20页 |
| ·典型电器元件的寿命预测 | 第20-21页 |
| ·本文的主要研究内容 | 第21-24页 |
| 第二章 生命初态信息的特征表示方法 | 第24-52页 |
| ·引言 | 第24-25页 |
| ·电器元件生命信息的特性 | 第25-39页 |
| ·电器元件的生命信息 | 第26-27页 |
| ·时序特性分析 | 第27-28页 |
| ·统计特性分析 | 第28-29页 |
| ·时变规律分析 | 第29-39页 |
| ·基于极值和端点值的特征表示法 | 第39-47页 |
| ·极值和端点值的获取 | 第40-41页 |
| ·基于波动大小的特征表示 | 第41-43页 |
| ·基于信息水平和平稳程度的特征表示 | 第43-47页 |
| ·基于分段均值的特征表示法 | 第47-49页 |
| ·分段均值的求解 | 第48-49页 |
| ·缺陷评价指标的定义 | 第49页 |
| ·本章小结 | 第49-52页 |
| 第三章 生命初态信息的特征与寿命的关系 | 第52-68页 |
| ·引言 | 第52-53页 |
| ·单个特征与寿命的关系分析 | 第53-58页 |
| ·函数关系的变换及最优关系模型的选择 | 第53-55页 |
| ·一元线性回归 | 第55-56页 |
| ·基于均值和标准差的线性模型 | 第56-58页 |
| ·多个特征与寿命的关系模型 | 第58-66页 |
| ·模糊C均值聚类 | 第58-61页 |
| ·BP神经网络建模 | 第61-64页 |
| ·新样本的判别分析 | 第64-65页 |
| ·寿命评估 | 第65-66页 |
| ·本章小结 | 第66-68页 |
| 第四章 典型电器元件的生命信息 | 第68-84页 |
| ·引言 | 第68页 |
| ·典型电器元件的电接触分析 | 第68-74页 |
| ·研究对象 | 第68-70页 |
| ·电接触过程的分析 | 第70-72页 |
| ·接触失效分析 | 第72-74页 |
| ·影响电磁继电器性能关键参数的确定 | 第74-77页 |
| ·电气参数 | 第75页 |
| ·主要电气参数与继电器性能的关系 | 第75-77页 |
| ·数据的获取 | 第77-82页 |
| ·数据测量方法及试验条件 | 第77-79页 |
| ·试验结果 | 第79-82页 |
| ·本章小结 | 第82-84页 |
| 第五章 实例分析 | 第84-104页 |
| ·引言 | 第84页 |
| ·初态接触电阻 | 第84-86页 |
| ·基于极值和端点值的特征表示及特征与寿命的关系分析 | 第86-97页 |
| ·极值和端点值的获取 | 第86-89页 |
| ·基于波动大小的缺陷评价指标 | 第89-91页 |
| ·各类指标与寿命的关系分析 | 第91-94页 |
| ·基于信息水平和平稳程度的缺陷评价指标 | 第94-95页 |
| ·指标与寿命的关系分析及寿命预测 | 第95-97页 |
| ·基于分段均值的特征表示及特征与寿命的关系分析 | 第97-102页 |
| ·基于分段均值的特征表示 | 第97-98页 |
| ·指标与寿命的关系分析及寿命预测 | 第98-102页 |
| ·本章小结 | 第102-104页 |
| 第六章 结论 | 第104-106页 |
| ·本文的工作总结 | 第104-105页 |
| ·本文主要创新之处 | 第105页 |
| ·工作展望 | 第105-106页 |
| 参考文献 | 第106-114页 |
| 攻读博士学位期间所取得的相关科研成果 | 第114-116页 |
| 致谢 | 第116页 |