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基于红外热成像的内部孔洞缺陷检测方法研究

致谢第1-7页
摘要第7-8页
Abstract第8-10页
目次第10-13页
图清单第13-15页
表清单第15-16页
1 绪论第16-24页
   ·研究背景与意义第16-17页
   ·国内外研究现状第17-21页
     ·红外热成像无损检测研究应用现状第17-19页
     ·红外热像仪研究应用现状第19-21页
   ·研究内容与技术路线第21-24页
2 红外热成像无损检测技术第24-36页
   ·红外辐射基本定律第24-27页
     ·红外光谱第24-25页
     ·黑体红外辐射基本定律第25-27页
     ·实际物体红外辐射基本定律第27页
   ·红外热像仪基本原理第27-31页
     ·红外热像仪工作原理第27-28页
     ·红外热像仪测温原理第28-31页
   ·红外热成像无损检测原理与方法第31-34页
     ·红外热成像无损检测原理第31页
     ·红外热成像无损检测方法第31-34页
   ·红外热成像无损检测主要影响因素第34-35页
     ·物体自身辐射率影响第34页
     ·大气中传播环境影响第34-35页
     ·其它背景辐射影响第35页
   ·本章小结第35-36页
3 孔洞缺陷表面温度场有限元模拟分析第36-59页
   ·有限元方法与热分析第36-38页
     ·有限元分析与ANSYS介绍第36-37页
     ·有限元分析中的传热学理论第37-38页
   ·孔洞缺陷表面温度场数学建模与分析第38-41页
     ·孔洞缺陷表面温度场数学建模第38-41页
     ·孔洞缺陷表面温度场数学分析第41页
   ·孔洞缺陷表面温度场ANSYS有限元仿真第41-46页
     ·仿真过程设计思路第42页
     ·孔洞缺陷试件设计第42-44页
     ·建模与网格分割第44页
     ·初始条件与荷载第44-46页
     ·求解与结果输出第46页
   ·孔洞缺陷表面温度场仿真结果分析第46-58页
     ·孔洞缺陷检测指标第46-47页
     ·仿真结果分析思路第47-48页
     ·加热-冷却过程中表面温度场对比分析第48-51页
     ·孔洞大小对表面温度场的影响分析第51-54页
     ·孔洞深度对表面温度场的影响分析第54-57页
     ·孔洞缺陷深度半定量分析第57-58页
   ·本章小结第58-59页
4 孔洞缺陷红外热成像无损检测实验研究第59-77页
   ·系统设计思路第59-60页
   ·系统硬件组成第60-64页
     ·主要仪器选择第60-62页
     ·热激励源设计第62-63页
     ·实验检测对象第63-64页
   ·系统软件介绍第64页
   ·实验步骤及注意事项第64-65页
   ·实验结果比对与分析第65-76页
     ·加热-冷却过程中表面温度场的比对分析第66-69页
     ·孔洞大小对表面温度场的影响分析第69-70页
     ·孔洞深度对表面温度场的影响分析第70-71页
     ·孔洞缺陷深度半定量分析第71-72页
     ·T=40s时表面温度场的评价分析第72-74页
     ·实验结果与仿真结果的比对分析第74-76页
   ·本章小结第76-77页
5 孔洞缺陷边缘检测算法研究第77-87页
   ·边缘检测基本原理第77-78页
   ·边缘检测金典算子第78-81页
     ·Robert边缘检测算子第79页
     ·Sobel边缘检测算子第79-80页
     ·Prewitt边缘检测算子第80页
     ·LOG边缘检测算子第80-81页
     ·Canny边缘检测算子第81页
   ·基于小波变换多尺度边缘检测算法研究及改进第81-84页
     ·小波变换的多尺度边缘检测原理与方法第82-83页
     ·小波变换多尺度边缘检测算法改进第83-84页
   ·边缘检测结果与分析第84-85页
   ·孔洞缺陷大小分析第85-86页
   ·本章小结第86-87页
6 总结与展望第87-89页
   ·总结第87-88页
   ·展望第88-89页
参考文献第89-92页
作者简历第92页

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