| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-22页 |
| ·课题来源 | 第10页 |
| ·研究背景 | 第10-11页 |
| ·软件测试国内外研究现状 | 第11-13页 |
| ·软件测试的基本概念 | 第13-15页 |
| ·软件测试定义 | 第13页 |
| ·软件测试分类 | 第13-15页 |
| ·软件测试原则 | 第15页 |
| ·软件组合测试用例的生成技术 | 第15-17页 |
| ·本文主要研究工作 | 第17-19页 |
| ·本文相关定义 | 第19-22页 |
| 第二章 无铅锡膏印刷设备及其测试特点 | 第22-34页 |
| ·无铅锡膏印刷设备的总体描述 | 第22-24页 |
| ·无铅锡膏印刷设备功能描述 | 第22页 |
| ·无铅锡膏印刷设备组成模块 | 第22-24页 |
| ·无铅锡膏印刷设备工作原理 | 第24-25页 |
| ·无铅锡膏印刷设备硬件控制流程 | 第24页 |
| ·无铅锡膏印刷设备软件控制流程 | 第24-25页 |
| ·无铅锡膏印刷设备软件测试特点 | 第25-29页 |
| ·设备软件测试和普通软件测试异同 | 第25-26页 |
| ·设备软件测试模式 | 第26-27页 |
| ·设备软件测试错误处理方式 | 第27-29页 |
| ·设备软件测试停止条件 | 第29页 |
| ·无铅锡膏印刷设备软件测试内容和存在问题 | 第29-32页 |
| ·设备软件系统测试主要内容 | 第29-31页 |
| ·设备软件测试问题主要来源 | 第31-32页 |
| ·设备软件测试现状及存在问题 | 第32页 |
| ·本章小结 | 第32-34页 |
| 第三章 基于参数权值设置成对组合测试用例集生成 | 第34-46页 |
| ·引言 | 第34页 |
| ·AETG 算法的算法思想分析 | 第34-36页 |
| ·贪心算法 AETG 的主体思想 | 第34-35页 |
| ·AETG 算法分析 | 第35-36页 |
| ·基于权值设置的 WAETG 算法 | 第36-44页 |
| ·WAETG 算法的提出 | 第36页 |
| ·测试系统参数权值的分配 | 第36-38页 |
| ·参数值编码 | 第38-40页 |
| ·锡膏印刷机参数编码的实现 | 第40-42页 |
| ·WAETG 算法描述 | 第42-44页 |
| ·本章小结 | 第44-46页 |
| 第四章 自适应型遗传算法的组合测试用例集生成 | 第46-56页 |
| ·软件测试遗传算法的基本模式 | 第46-47页 |
| ·基本遗传算法模式 | 第46页 |
| ·基本遗传算法分析 | 第46-47页 |
| ·自适应型遗传算法 | 第47-55页 |
| ·自适应型遗传算法提出 | 第47-48页 |
| ·自适应遗传算法编码 | 第48-51页 |
| ·算法遗传操作 | 第51-52页 |
| ·算法适用度函数设计 | 第52页 |
| ·初始种群的生成 | 第52-55页 |
| ·SAGA 算法描述 | 第55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 第五章 软件实现及实验数据分析 | 第56-69页 |
| ·引言 | 第56页 |
| ·无铅锡膏印刷设备性能测试 | 第56-57页 |
| ·稳定性和恢复能力测试 | 第56-57页 |
| ·压力测试 | 第57页 |
| ·执行步骤 | 第57页 |
| ·系统总体设计和数据结构设计 | 第57-59页 |
| ·无铅锡膏印刷设备软件系统的总体结构 | 第57-58页 |
| ·系统数据结构设计 | 第58-59页 |
| ·系统模块设计 | 第59-64页 |
| ·参数输入模块 | 第59-61页 |
| ·测试用例生成模块 | 第61页 |
| ·算法参数设定模块 | 第61-62页 |
| ·算法分析模块 | 第62-63页 |
| ·测试用例可视化模块 | 第63-64页 |
| ·算法结果分析 | 第64-67页 |
| ·随机算法、AETG 算法和 WAETG 算法对比分析 | 第64页 |
| ·随机算法、SGA 算法和 SAGA 算法对比分析 | 第64-65页 |
| ·所有算法对比分析 | 第65-67页 |
| ·实际测试数据 | 第67-68页 |
| ·本章小结 | 第68-69页 |
| 总结与展望 | 第69-71页 |
| 总结 | 第69页 |
| 创新点 | 第69-70页 |
| 研究展望 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-75页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第75-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |
| 附件 | 第77页 |