FPGA互连结构设计评估与测试
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 引言 | 第7-12页 |
| ·FPGA简介 | 第7-9页 |
| ·芯片测试技术介绍 | 第9-10页 |
| ·测试目的 | 第9页 |
| ·测试目标 | 第9-10页 |
| ·工作重点 | 第10页 |
| ·论文组织 | 第10-12页 |
| 第二章 FPGA连结构设计与评估 | 第12-31页 |
| ·FPGA互连结构简介 | 第12-14页 |
| ·布局布线及VPR工具简介 | 第14-16页 |
| ·布局布线 | 第14页 |
| ·VPR工具 | 第14-16页 |
| ·FPGA互连结构研究现状 | 第16-18页 |
| ·GSB连模型研究 | 第18-23页 |
| ·GSB互连模型建模 | 第18-21页 |
| ·GSB模型参数设置 | 第21-22页 |
| ·GSB模型探索 | 第22-23页 |
| ·连结构评估框架 | 第23-25页 |
| ·实验结果分析 | 第25-30页 |
| ·单倍线结构的Fc分布 | 第25-26页 |
| ·单种线型优化结构 | 第26-27页 |
| ·两种线型结构 | 第27-30页 |
| ·实验结果总结 | 第30页 |
| ·本章总结 | 第30-31页 |
| 第三章 FPGA互连测试诊断 | 第31-60页 |
| ·FPGA测试简介 | 第31-33页 |
| ·FPGA测试研究意义 | 第31页 |
| ·FPGA互连故障模型 | 第31-33页 |
| ·相关概念 | 第33页 |
| ·FPGA互连测试配置要求 | 第33页 |
| ·FPGA测试相关内容 | 第33-38页 |
| ·位流下载 | 第33-35页 |
| ·JTAG边界扫描技术 | 第35-36页 |
| ·FDP3芯片 | 第36-37页 |
| ·CLB内部结构 | 第37-38页 |
| ·FPGA连测试算法研究现状 | 第38-42页 |
| ·FPGA测试通用互连模型 | 第42-44页 |
| ·基本测试思想 | 第44-45页 |
| ·测试配置按PIP方向分解 | 第44页 |
| ·配置CLB | 第44-45页 |
| ·测试向量 | 第45页 |
| ·基于TPG和ORA的测试配置生成 | 第45-50页 |
| ·基本思想 | 第45-46页 |
| ·测试流程 | 第46-49页 |
| ·芯片测试 | 第49-50页 |
| ·基于局部重配置的FPGA互连测试诊断 | 第50-59页 |
| ·JTAG局部重配置 | 第51页 |
| ·测试算法流程 | 第51-53页 |
| ·故障覆盖率证明 | 第53页 |
| ·故障诊断 | 第53-55页 |
| ·测试配置数 | 第55-56页 |
| ·芯片测试 | 第56-58页 |
| ·故障诊断实例 | 第58-59页 |
| ·本章总结 | 第59-60页 |
| 第四章 总结与展望 | 第60-62页 |
| ·总结 | 第60页 |
| ·展望 | 第60-62页 |
| 参考文献 | 第62-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 攻读硕士学位期间发表论文 | 第65-66页 |
