| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 目录 | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-10页 |
| ·课题背景、意义及来源 | 第7-8页 |
| ·国内外研究现状 | 第8-9页 |
| ·本文研究的主要内容 | 第9-10页 |
| 第二章 INTEL80C31辐射效应测试系统的总体设计 | 第10-14页 |
| ·系统功能及主要技术指标 | 第10页 |
| ·系统硬件结构 | 第10-12页 |
| ·系统软件结构 | 第12-14页 |
| 第三章 INTEL80C31辐射效应测试系统的硬件设计 | 第14-22页 |
| ·被测80C31CPU最小系统 | 第14页 |
| ·AT89C52监测系统 | 第14-15页 |
| ·双端口RAM | 第15-16页 |
| ·被测80C31芯片供电电源电流的检测电路 | 第16-17页 |
| ·被测80C31单粒子锁定计数模块电路设计 | 第17-18页 |
| ·被测80C31芯片供电电源电流的A/D转换 | 第18-19页 |
| ·发生强锁定时的保护 | 第19-20页 |
| ·通讯模块接口设计 | 第20页 |
| ·看门狗电路 | 第20-21页 |
| ·小结 | 第21-22页 |
| 第四章 下位机系统软件设计 | 第22-33页 |
| ·被测80C31CPU芯片的测试程序设计 | 第22-25页 |
| ·AT89C52监测程序设计 | 第25-33页 |
| 第五章 上位机系统软件设计 | 第33-34页 |
| 第六章 总结 | 第34-35页 |
| 致谢 | 第35-36页 |
| 参考文献 | 第36-37页 |
| 读研期间所发表论文 | 第37-38页 |
| 附录1 INTEL80C31辐射效应测试系统电气原理图 | 第38页 |
