| 第一章 绪论 | 第1-19页 |
| ·近红外光谱分析技术简介及原理 | 第7-11页 |
| ·近红外光谱及其分析技术简介 | 第7-8页 |
| ·近红外光谱分析原理 | 第8-9页 |
| ·近红外光谱常规分析技术 | 第9-11页 |
| ·近红外光谱分析应用 | 第11页 |
| ·近红外光谱仪的种类、发展趋势及国内外研究现状 | 第11-17页 |
| ·近红外光谱仪的种类 | 第11-12页 |
| ·近红外光谱分析技术的国内外研究现状及发展趋势 | 第12-17页 |
| ·选题背景、意义及研究内容 | 第17-19页 |
| ·选题背景及意义 | 第17页 |
| ·本文研究内容 | 第17-19页 |
| 第二章 CCD应用技术介绍 | 第19-27页 |
| ·CCD 的基本分类 | 第19页 |
| ·基于CCD 的分析仪器在国内外的发展简述 | 第19-20页 |
| ·CCD 的基本工作原理 | 第20-25页 |
| ·光电转换、存储 | 第20-21页 |
| ·电荷的转移 | 第21-22页 |
| ·电荷读出 | 第22-25页 |
| ·CCD 的基本特性参数 | 第25-27页 |
| 第三章 基于CCD的近红外光谱仪的测控系统方案设计 | 第27-36页 |
| ·基于CCD 的近红外光谱仪结构分析 | 第27-28页 |
| ·仪器的测控系统结构分析 | 第28-30页 |
| ·仪器的各个测控模块设计及主要芯片选择 | 第30-36页 |
| ·时序模块 | 第30页 |
| ·A/D 转换模块 | 第30-32页 |
| ·MCU 与接口模块 | 第32-34页 |
| ·数据缓存模块 | 第34-36页 |
| 第四章 基于CCD的近红外光谱仪测控系统的具体设计 | 第36-72页 |
| ·时序产生及驱动模块设计及时序仿真 | 第36-46页 |
| ·CCD 时序发生器与MCU 控制器的接口关系 | 第36页 |
| ·本论文CCD 器件的选择 | 第36-38页 |
| ·CCD 驱动脉冲描述 | 第38-40页 |
| ·基于CPLD 的时序控制模块设计及仿真 | 第40-46页 |
| ·CCD 信号处理模块电路的设计 | 第46-47页 |
| ·模数转换模块电路的设计 | 第47-49页 |
| ·数据缓存模块的电路设计 | 第49-52页 |
| ·FIFO 芯片概述 | 第49-50页 |
| ·IDT7204 主要特点 | 第50页 |
| ·FIFO 的工作原理 | 第50-52页 |
| ·底层控制与接口模块的设计 | 第52-61页 |
| ·MCU 周边电路设计 | 第52-53页 |
| ·USB 简介 | 第53-54页 |
| ·USB 通信模块软硬件组成 | 第54-55页 |
| ·仪器固件程序开发 | 第55-57页 |
| ·设备驱动程序开发 | 第57-59页 |
| ·底层测控软件的开发 | 第59-61页 |
| ·上层测控软件模块的设计 | 第61-68页 |
| ·DLL 动态链接库技术 | 第62-65页 |
| ·测控软件各功能模块的设计及整体的控制界面 | 第65-68页 |
| ·电源管理模块的设计 | 第68-72页 |
| 第五章 系统的实现与调试 | 第72-84页 |
| ·系统的实现 | 第72-73页 |
| ·系统的调试 | 第73-75页 |
| ·系统调试实验使用的仪器 | 第73页 |
| ·关键点的调试 | 第73-74页 |
| ·整体系统的调试 | 第74-75页 |
| ·仪器的调试 | 第75-79页 |
| ·CCD 感光范围的确定 | 第76-77页 |
| ·仪器的波长标定 | 第77-78页 |
| ·仪器白板的校正 | 第78-79页 |
| ·基于CCD 的近红外光谱仪性能指标测试 | 第79-84页 |
| ·波长范围的确定 | 第79页 |
| ·仪器分辨率的确定 | 第79-80页 |
| ·波长准确性 | 第80-81页 |
| ·信噪比 | 第81-82页 |
| ·杂散光 | 第82页 |
| ·一次测量速度 | 第82页 |
| ·波长的重复性 | 第82-83页 |
| ·数据分辨率 | 第83-84页 |
| 第六章 全文总结 | 第84-85页 |
| 参考文献 | 第85-87页 |
| 摘要 | 第87-89页 |
| ABSTRACT | 第89-92页 |
| 致谢 | 第92-93页 |
| 攻读硕士期间的科研成果 | 第93页 |