| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-10页 |
| ·论文产生的背景和意义 | 第7页 |
| ·国内外发展状况 | 第7-8页 |
| ·本文的主要工作 | 第8-10页 |
| 第二章 雷达相关杂波仿真与分析 | 第10-37页 |
| ·雷达工作环境概述 | 第10-13页 |
| ·常用雷达杂波统计模型 | 第13-18页 |
| ·高斯分布统计模型 | 第14-15页 |
| ·非高斯分布统计模型 | 第15-18页 |
| ·相关非高斯分布序列的仿真 | 第18-28页 |
| ·常用模拟方法比较 | 第18-19页 |
| ·相关高斯分布随机序列的产生 | 第19-20页 |
| ·几种相关非高斯分布序列的产生 | 第20-28页 |
| ·基于递推算法的严格最大熵谱估计方法 | 第28-34页 |
| ·谱估计概述 | 第28-29页 |
| ·最大熵谱估计 | 第29-30页 |
| ·严格最大熵谱估计的递推方法 | 第30-32页 |
| ·计算机仿真分析 | 第32-34页 |
| ·实测杂波数据分析 | 第34-37页 |
| ·经典功率谱估计 | 第34-36页 |
| ·本文的严格最大熵谱估计方法 | 第36-37页 |
| 第三章 信号源的设计 | 第37-47页 |
| ·数字信号源的设计 | 第37-42页 |
| ·数字信号源简介 | 第37页 |
| ·数字信号源的模块组成 | 第37-41页 |
| ·数字信号源的数据组成 | 第41-42页 |
| ·模拟信号源的设计 | 第42-47页 |
| ·A/D 变换器 | 第42-43页 |
| ·A/D 变换器的选择 | 第43-44页 |
| ·A/D 电路组成 | 第44-45页 |
| ·A/D 有效位测试 | 第45-47页 |
| 第四章 电路板的自动测试方法 | 第47-57页 |
| ·自动测试系统概述 | 第47-49页 |
| ·自动测试系统的构成 | 第47页 |
| ·故障诊断流程与方法 | 第47-49页 |
| ·自动测试的发展现状 | 第49-50页 |
| ·自动测试的发展趋势 | 第50-51页 |
| ·美国TERADYNE Spectrum 系列自动测试设备 | 第51-54页 |
| ·信号源的自动测试 | 第54-57页 |
| ·自动测试的技术实现 | 第54-55页 |
| ·模拟信号源板在M9100 上的自动测试 | 第55-57页 |
| 结束语 | 第57-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-62页 |
| 作者在研究生期间研究的成果 | 第62-63页 |