| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| ·研究背景及选题依据 | 第9-10页 |
| ·国内外相关科技发展动态 | 第10-11页 |
| ·本文的主要工作和意义 | 第11页 |
| ·本文的章节安排 | 第11-13页 |
| 第二章 热载流子效应及抗热载流子退化设计方法 | 第13-23页 |
| ·集成电路中的可靠性问题 | 第13-14页 |
| ·热载流子效应概述 | 第14-18页 |
| ·氧化层中的电荷 | 第14-15页 |
| ·热载流子效应 | 第15-17页 |
| ·热载流子效应与器件退化 | 第17-18页 |
| ·抗热载流子退化的器件结构与工艺加固 | 第18-22页 |
| ·轻掺杂漏结构（LDD）及改进的LDD 结构 | 第19-21页 |
| ·双扩散漏结构（DDD） | 第21页 |
| ·抗热载流子工艺加固设计 | 第21-22页 |
| ·本章小结 | 第22-23页 |
| 第三章 CMOS 电路的抗热载流子退化电路设计 | 第23-35页 |
| ·CMOS 电路抗热载流子退化电路设计原理 | 第23-24页 |
| ·CMOS 电路抗热载流子退化电路设计的模拟验证 | 第24-33页 |
| ·本章小结 | 第33-35页 |
| 第四章 MOS 热载流子退化嵌入式测试技术及其电路设计 | 第35-54页 |
| ·热载流子退化的嵌入式测试技术研究 | 第35-40页 |
| ·嵌入式测试技术的优点和必要性 | 第35-36页 |
| ·热载流子退化的嵌入式测试策略 | 第36-40页 |
| ·嵌入式预测电路的设计与仿真 | 第40-49页 |
| ·预测单元电路的测试结构 | 第49-51页 |
| ·预测电路单元的适用性及IP 库建立展望 | 第51-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 第五章 基于JTAG 总线的测试访问接口设计 | 第54-66页 |
| ·JTAG 的原理与功能 | 第54-57页 |
| ·JTAG 的组成与框架 | 第54-56页 |
| ·边界扫描链的功能及JTAG 指令 | 第56-57页 |
| ·预测系统JTAG 总线接口的设计 | 第57-64页 |
| ·本章小结 | 第64-66页 |
| 第六章 结束语 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-71页 |
| 攻读硕士学位期间的研究成果 | 第71-72页 |