| 摘要 | 第1-8页 |
| ABSTRACT | 第8-11页 |
| 第一章 文献综述 | 第11-46页 |
| ·引言 | 第11-13页 |
| ·互溶介质间多相层流无膜分离、反应 | 第13-22页 |
| ·多相层流无膜分离的理论基础 | 第13-14页 |
| ·多相层流无膜分离、反应技术 | 第14-22页 |
| ·不互溶介质间的无膜传质萃取 | 第22-34页 |
| ·多相传质无膜萃取的理论基础 | 第22-23页 |
| ·多相传质无膜萃取技术 | 第23-34页 |
| ·基于液相传质技术的芯片装置或功能的集成化 | 第34-42页 |
| 参考文献 | 第42-46页 |
| 第二章 基于捕陷液滴萃取富集─化学发光检测的微流控芯片顺序注射分析系统的研究 | 第46-65页 |
| ·引言 | 第46-47页 |
| ·实验部分 | 第47-54页 |
| ·仪器与试剂 | 第47-48页 |
| ·微流控芯片的加工 | 第48-52页 |
| ·实验装置 | 第52页 |
| ·实验操作与流程 | 第52-54页 |
| ·结果与讨论 | 第54-62页 |
| ·微芯片的加工 | 第54-55页 |
| ·萃取及化学发光反应 | 第55-60页 |
| ·分析性能 | 第60-62页 |
| ·系统耐久性 | 第62页 |
| ·结论 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-65页 |
| 第三章 微流控芯片液滴萃取富集─化学发光检测分析微量铝的研究 | 第65-81页 |
| ·引言 | 第65-67页 |
| ·实验部分 | 第67-70页 |
| ·仪器与试剂 | 第67-68页 |
| ·实验装置 | 第68-69页 |
| ·操作流程 | 第69-70页 |
| ·结果与讨论 | 第70-78页 |
| ·系统设计思想 | 第70-71页 |
| ·一体式取样探针芯片 | 第71-72页 |
| ·反应条件的优化 | 第72-76页 |
| ·萃取时间的影响 | 第72-75页 |
| ·H_2O_2浓度的影响 | 第75-76页 |
| ·CPPO 乙腈溶液的浓度和流速的影响 | 第76页 |
| ·分析性能 | 第76-78页 |
| ·结论 | 第78-79页 |
| 参考文献 | 第79-81页 |
| 第四章 电荷耦合器件光度检测─深通道多相层流微流控芯片分析系统 | 第81-93页 |
| ·引言 | 第81-82页 |
| ·实验部分 | 第82-85页 |
| ·仪器及试剂 | 第82页 |
| ·芯片加工 | 第82-83页 |
| ·分析系统 | 第83-84页 |
| ·实验操作 | 第84页 |
| ·图像采集及数据处理 | 第84-85页 |
| ·结果与讨论 | 第85-92页 |
| ·深通道微流控芯片的加工 | 第85-89页 |
| ·CCD光度检测 | 第89-90页 |
| ·Fe~(3+)比色分析 | 第90-92页 |
| ·结论 | 第92-93页 |
| 参考文献 | 第93-95页 |
| 附录 | 第95-96页 |
| 致谢 | 第96-97页 |
