金属/氧化物与半导体/氧化物多层膜及光伏系统
前言 | 第1-9页 |
第一章 绪论 | 第9-16页 |
·薄膜材料研究的意义 | 第9-10页 |
·纳米薄膜及多层膜 | 第10-14页 |
·多层膜研究概况 | 第10-13页 |
·多层膜在光伏电池中的应用 | 第13-14页 |
·论文工作的主要内容 | 第14-15页 |
本章小结 | 第15-16页 |
第二章 薄膜的生长原理、制备技术及检测方法 | 第16-27页 |
·薄膜的生长原理 | 第16-18页 |
·临界核的形成 | 第16-17页 |
·岛的长大与接合 | 第17页 |
·迷津结构的形成 | 第17页 |
·连续膜的形成 | 第17-18页 |
·薄膜的制备方法 | 第18-21页 |
·真空蒸发沉积 | 第18-20页 |
·溅射沉积 | 第20页 |
·气相生长沉积 | 第20-21页 |
·外延沉积 | 第21页 |
·薄膜的检测 | 第21-26页 |
·膜厚测量 | 第21-22页 |
·薄膜表面检测技术 | 第22-26页 |
本章小结 | 第26-27页 |
第三章 多层膜的制备及检测 | 第27-56页 |
·实验仪器与设备 | 第27-29页 |
·真空镀膜设备 | 第27-28页 |
·检测设备 | 第28-29页 |
·薄膜试样的制取 | 第29-30页 |
·铝/氧化铝多层膜性能检测 | 第30-37页 |
·铝/氧化铝多层膜电性能检测 | 第31-36页 |
·铝/氧化铝薄膜的AFM图象分析 | 第36-37页 |
·铬/氧化铬多层膜性能检测 | 第37-43页 |
·铬/氧化铬多层膜电性能检测 | 第37-40页 |
·扫描截面分析 | 第40-41页 |
·扫描隧道显微镜(STM)分析 | 第41-42页 |
·金属/氧化物多层膜类负阻特性的形成原因分析讨论 | 第42-43页 |
·硅/氧化硅多层膜性能检测 | 第43-52页 |
·硅/氧化硅多层膜性能检测 | 第43-47页 |
·硅/氧化硅薄膜透射电子显微镜(TEM)观察 | 第47-52页 |
·电性能比较分析 | 第52-55页 |
本章小结 | 第55-56页 |
第四章 小型光伏系统 | 第56-68页 |
·开发太阳能电池的意义 | 第56-57页 |
·太阳能电池发电原理 | 第57页 |
·太阳电池的等效电路及功率参数 | 第57-59页 |
·太阳电池的等效电路 | 第57-59页 |
·转换效率、输出功率和填充因子 | 第59页 |
·小型光伏发电系统 | 第59-61页 |
·太阳电池方阵 | 第60页 |
·调节控制器 | 第60页 |
·阻塞二极管 | 第60-61页 |
·太阳能草坪灯 | 第61页 |
·太阳能电池测试装置原理 | 第61-62页 |
·样品的形貌观察及性能测试 | 第62-67页 |
·样品α-Si01横截面分析 | 第62-64页 |
·不同光强情况下的U-I测试 | 第64-67页 |
本章小结 | 第67-68页 |
结论 | 第68-70页 |
参考文献 | 第70-73页 |
攻读硕士学位期间发表的论文 | 第73-74页 |
致谢 | 第74页 |