| 中文摘要 | 第1-5页 |
| 英文摘要 | 第5-8页 |
| 1 绪论 | 第8-14页 |
| 1．1 非致冷型红外焦平面列阵 | 第8-10页 |
| 1．1．1 热电堆焦平面列阵 | 第8页 |
| 1．1．2 测辐射热计焦平面列阵 | 第8-9页 |
| 1．1．3 热释电焦平面列阵技术 | 第9-10页 |
| 1．2 红外非致冷焦平面列阵比较 | 第10页 |
| 1．3 非致冷红外焦平面列阵的读出技术及测试 | 第10-13页 |
| 1．3．1 非致冷焦平面CMOS读出电路 | 第11-12页 |
| 1．3．2 红外焦平面读出电路的测试 | 第12页 |
| 1．3．3 红外焦平面列阵参数测试 | 第12-13页 |
| 1．4 本课题研究的主要内容 | 第13-14页 |
| 2 PCI总线技术 | 第14-25页 |
| 2．1 前言 | 第14页 |
| 2．2 PCI总线 | 第14-19页 |
| 2．2．1 PCI总线的孕育和发展 | 第14-16页 |
| 2．2．2 PCI总线结构 | 第16-17页 |
| 2．2．3 PCI总线的特点 | 第17-19页 |
| 2．3 初始化系统PCI总线和设备 | 第19-21页 |
| 2．3．1 PCI地址空间 | 第19页 |
| 2．3．2 PCI配置头 | 第19-21页 |
| 2．3．3 PCI I/O和PCI MEM地址 | 第21页 |
| 2．4 配置机构的访问方法 | 第21-22页 |
| 2．4．1 配置机制 | 第21-22页 |
| 2．5 PCI设备的检索 | 第22-24页 |
| 2．5．1 PCI BIOS函数 | 第23页 |
| 2．5．2 PCI设备的组织 | 第23-24页 |
| 2．6 本章小结 | 第24-25页 |
| 3 设备驱动程序设计 | 第25-42页 |
| 3．1 Windows设备驱动程序概述 | 第25-26页 |
| 3．2 Windows下设备驱动程序的发展 | 第26-29页 |
| 3．3 WindowsNT/2000体系结构和WDM模型 | 第29-34页 |
| 3．4 PCI驱动程序的特点 | 第34-35页 |
| 3．5 PCI设备驱动程序的组成 | 第35-37页 |
| 3．6 PCI设备驱动程序开发工具介绍及选择 | 第37-38页 |
| 3．7 WinDriver工具包 | 第38-41页 |
| 3．7．1 WinDriver开发包的组成 | 第38-39页 |
| 3．7．2 WinDriver结构 | 第39页 |
| 3．7．3 WinDriver特点 | 第39-41页 |
| 3．8 本章小结 | 第41-42页 |
| 4 基于PCI的ROIC测试用数据采集系统 | 第42-51页 |
| 4．1 系统特点介绍 | 第42页 |
| 4．2 硬件系统原理框图 | 第42-47页 |
| 4．2．1 PCI接口芯片 | 第43-44页 |
| 4．2．2 前置模拟通道 | 第44页 |
| 4．2．3 模数转换电路 | 第44-46页 |
| 4．2．4 数据缓存SRAM | 第46页 |
| 4．2．5 CPLD逻辑框图 | 第46-47页 |
| 4．3 Windows下驱动程序 | 第47-50页 |
| 4．3．1 WinDriver应用 | 第47-50页 |
| 4．4 本章小结 | 第50-51页 |
| 5 调试及改进 | 第51-63页 |
| 5．1 设备驱动程序 | 第51-52页 |
| 5．1．1 设备驱动程序 | 第51-52页 |
| 5．1．2 INF的制作要点 | 第52页 |
| 5．2 硬件电路 | 第52-62页 |
| 5．2．1 外围电路 | 第52-53页 |
| 5．2．2 PCI接口 | 第53-62页 |
| 5．3 本章小结 | 第62-63页 |
| 6 结论 | 第63-65页 |
| 6．1 课题的特点 | 第63页 |
| 6．2 完成的工作 | 第63-64页 |
| 6．3 改进与完善 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-68页 |
| 附录A 论文发表情况 | 第68页 |