| 导言 | 第1-9页 |
| 第一章 空间环境高能辐射对电荷耦合器件损伤研究现状 | 第9-22页 |
| 1．1． 空间自然辐射环境概况 | 第9-10页 |
| 1．2． CCD辐射损伤原理 | 第10-18页 |
| 1．2．1． 电离效应 | 第10-15页 |
| 1．2．2． 位移效应 | 第15-18页 |
| 1．3． CCD辐射加固和损伤退火 | 第18-20页 |
| 1．4． CCD辐射损伤研究现状 | 第20-22页 |
| 第二章 高能粒子辐射在电荷耦合器件中引起的位移效应计算 | 第22-53页 |
| 2．1 原子核弹性碰撞能量损失及轨迹 | 第22-31页 |
| 2．1．1． 运动轨迹和能量传递 | 第22-27页 |
| 2．1．2． 原子相互作用势 | 第27-31页 |
| 2．2． 电子作用能量损失截面 | 第31-42页 |
| 2．2．1． 高能质子在固体中的电子作用能量损失 | 第33-36页 |
| 2．2．2． 重离子的电子阻止截面 | 第36-39页 |
| 2．2．2．1． 低速重离子电子阻止 | 第36页 |
| 2．2．2．2． 高速重离子电子阻止 | 第36-37页 |
| 2．2．2．3． 中等速度重离子电子阻止 | 第37-39页 |
| 2．2．3． 经验电子阻止截面 | 第39-42页 |
| 2．3． 初始位移数目的计算 | 第42-53页 |
| 第三章 高能辐射在电荷耦合器件中的位移效应 | 第53-73页 |
| 3．1． NIEL方法 | 第53-57页 |
| 3．2． 辐射输运方法 | 第57-63页 |
| 3．3． 经验评估方法 | 第63-73页 |
| 3．3．1． 深耗尽状态下自由载流子的复合和产生 | 第64-66页 |
| 3．3．2． 体态对转移效率的影响 | 第66-67页 |
| 3．3．3． 暗流 | 第67-68页 |
| 3．3．4． 位移效应转移效率退化和暗流增加的经验评估法 | 第68-73页 |
| 第四章 高能辐射在电荷耦合器件中的电离效应 | 第73-86页 |
| 4．1． MPP模式 | 第73-76页 |
| 4．2． 电离效应辐照实验 | 第76-79页 |
| 4．3． 平带电压漂移 | 第79-86页 |
| 第五章 空间太阳望远镜上CCD的辐射防护 | 第86-98页 |
| 5．1． 空间太阳望远镜辐照量 | 第86-87页 |
| 5．2． 空间太阳望远镜上CCD的防护 | 第87-92页 |
| 5．3． 辐射防护效果评估及工作模式 | 第92-98页 |
| 第六章 CCD辐射损伤的实验室检测方法研究 | 第98-117页 |
| 6．1． 增益、噪声以及暗流的测量 | 第99-103页 |
| 6．2． 转移效率测量 | 第103-107页 |
| 6．3． 量子效率测量 | 第107-117页 |
| 结束语 | 第117-118页 |
| 参考文献 | 第118-124页 |
| 在学期间发表的文章 | 第124-125页 |
| 致谢 | 第125页 |
