| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-7页 |
| 目录 | 第7-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-15页 |
| ·研究背景 | 第10-11页 |
| ·研究必要性 | 第11-12页 |
| ·实现高频谱利用率的必要条件 | 第11页 |
| ·体现 TDD核心价值并发展好 TD-LTE的关键因素 | 第11-12页 |
| ·制约 LTE手机终端发展的主要技术瓶颈 | 第12页 |
| ·多制式移动通信网络共存的基础 | 第12页 |
| ·主要研究内容 | 第12-13页 |
| ·文章结构 | 第13-15页 |
| 第二章 天线基本理论及研究进展 | 第15-45页 |
| ·天线基本理论 | 第15-25页 |
| ·天线基本概念 | 第15-20页 |
| ·微带天线辐射原理 | 第20-21页 |
| ·微带天线分析方法 | 第21-25页 |
| ·提高天线隔离度的研究进展 | 第25-37页 |
| ·角度分集 | 第25-27页 |
| ·极化分集 | 第27-29页 |
| ·接地板开槽 | 第29-31页 |
| ·插入寄生单元 | 第31页 |
| ·插入反射单元 | 第31-32页 |
| ·电磁带隙结构 | 第32-34页 |
| ·平衡天线结构 | 第34-36页 |
| ·中和线技术 | 第36-37页 |
| ·频率可重构天线的研究进展 | 第37-44页 |
| ·改变辐射片结构的可重构天线 | 第38-40页 |
| ·加载可变电容的可重构天线 | 第40-41页 |
| ·增加匹配控制电路的可重构天线 | 第41-42页 |
| ·采用可变介电常数材料的可重构天线 | 第42-44页 |
| ·本章小结 | 第44-45页 |
| 第三章 高隔离度多天线阵列的设计与仿真 | 第45-56页 |
| ·天线单元及特性分析 | 第45-49页 |
| ·天线单元结构 | 第45-47页 |
| ·容性馈电结构特性分析 | 第47-48页 |
| ·容性加载结构特性分析 | 第48-49页 |
| ·天线仿真结果 | 第49-51页 |
| ·S参数仿真结果 | 第49-50页 |
| ·方向图仿真结果 | 第50-51页 |
| ·天线特性分析 | 第51-54页 |
| ·本章小结 | 第54-56页 |
| 第四章 短路壁可重构多频天线的设计与仿真 | 第56-64页 |
| ·短路壁可重构天线结构 | 第56-57页 |
| ·天线特性分析及设计方法 | 第57-60页 |
| ·短路壁位置对天线性能的影响 | 第58-59页 |
| ·短路壁宽度对天线性能的影响 | 第59-60页 |
| ·天线设计方法 | 第60页 |
| ·天线仿真结果 | 第60-63页 |
| ·本章小结 | 第63-64页 |
| 第五章 天线实物测试 | 第64-71页 |
| ·天线参数测量方法 | 第64-67页 |
| ·回波损耗测量方法 | 第64-66页 |
| ·传输系数测量方法 | 第66页 |
| ·方向图测量方法 | 第66-67页 |
| ·高隔离度双天线阵列 S参数测量 | 第67-68页 |
| ·短路壁可重构天线回波损耗测量 | 第68-69页 |
| ·本章小结 | 第69-71页 |
| 第六章 结论与展望 | 第71-73页 |
| ·结论 | 第71-72页 |
| ·展望 | 第72-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
| 参考文献 | 第74-77页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第77页 |