Z箍缩高温等离子体极化光谱诊断研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-10页 |
| 1 绪论 | 第10-17页 |
| ·引言 | 第10-12页 |
| ·X 射线极化光谱学诊断意义 | 第12-14页 |
| ·X 射线极化光谱学研究现状 | 第14-15页 |
| ·本文研究的主要内容和创新点 | 第15-16页 |
| ·本章小结 | 第16-17页 |
| 2 X 射线极化光谱理论 | 第17-28页 |
| ·塞曼效应 | 第17-18页 |
| ·极化度理论计算分析 | 第18-26页 |
| ·光子密度矩阵计算 | 第19-22页 |
| ·光子密度矩阵法计算极化度结果 | 第22-23页 |
| ·多极辐射场计算 | 第23-25页 |
| ·多极辐射场法计算结果 | 第25-26页 |
| ·极化度与电子束能量关系 | 第26-27页 |
| ·本章小结 | 第27-28页 |
| 3 晶体与X 射线作用理论及特性 | 第28-43页 |
| ·X 射线散射 | 第28-30页 |
| ·X 射线折射 | 第30-34页 |
| ·布儒斯特角 | 第34-37页 |
| ·E_0 垂直于入射平面 | 第34-36页 |
| ·E_0 平行于入射平面 | 第36页 |
| ·布儒斯特角 | 第36-37页 |
| ·晶体 | 第37-41页 |
| ·晶面间距 | 第37-38页 |
| ·半高宽和峰值衍射率 | 第38-39页 |
| ·积分反射率 | 第39-40页 |
| ·积分反射率标定 | 第40-41页 |
| ·常用的衍射晶体及特性 | 第41页 |
| ·本章小结 | 第41-43页 |
| 4 极化晶体谱仪研制 | 第43-55页 |
| ·晶体谱仪 | 第43-45页 |
| ·平面晶体谱仪 | 第43页 |
| ·凸面晶体谱仪 | 第43-44页 |
| ·凹面晶体谱仪 | 第44-45页 |
| ·晶体谱仪主要机构 | 第45-51页 |
| ·晶体分析器 | 第45-46页 |
| ·闸板阀 | 第46-47页 |
| ·转接法兰 | 第47页 |
| ·胶片暗盒 | 第47-48页 |
| ·滤光膜 | 第48-51页 |
| ·极化晶体谱仪 | 第51-54页 |
| ·晶体布拉格角 | 第51-52页 |
| ·极化晶体谱仪 | 第52-54页 |
| ·瞄准对中检测 | 第54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 5 Z 箍缩极化实验研究 | 第55-69页 |
| ·Z 箍缩 | 第55-57页 |
| ·Z 箍缩类型 | 第55页 |
| ·喷气式Z 箍缩 | 第55-56页 |
| ·研究Z 箍缩等离子体目的 | 第56-57页 |
| ·晶体检测实验 | 第57-62页 |
| ·分光晶体衍射实验 | 第57-58页 |
| ·晶体分析器 | 第58-59页 |
| ·晶体分析器尺寸检测 | 第59-60页 |
| ·晶体分析器光谱分辨率检测 | 第60-62页 |
| ·在“阳”加速器装置上的极化实验 | 第62-68页 |
| ·单晶体分析器旋转法极化实验 | 第62-64页 |
| ·采用极化晶体谱仪进行极化实验 | 第64-68页 |
| ·本章小结 | 第68-69页 |
| 6 实验结果诊断分析 | 第69-85页 |
| ·高温等离子体电子温度诊断方法 | 第69-70页 |
| ·相对强度法测温 | 第69页 |
| ·斜率法测温 | 第69-70页 |
| ·利用共振线与伴线测温 | 第70页 |
| ·电子温度诊断 | 第70-76页 |
| ·理论分析 | 第71-73页 |
| ·电子温度探测实验诊断 | 第73-75页 |
| ·温度诊断 | 第75-76页 |
| ·极化度实验计算 | 第76-78页 |
| ·X 射线光谱极化实验结果分析 | 第78-84页 |
| ·单晶体旋转法极化实验分析 | 第79-80页 |
| ·极化晶体谱仪实验分析 | 第80-83页 |
| ·Z 箍缩极化机理分析 | 第83-84页 |
| ·本章小结 | 第84-85页 |
| 7 总结 | 第85-88页 |
| 致谢 | 第88-89页 |
| 参考文献 | 第89-97页 |
| 附录 | 第97-98页 |
