| 摘要 | 第1-11页 |
| ABSTRACT | 第11-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-26页 |
| ·研究背景 | 第13-18页 |
| ·空间辐射环境 | 第13-14页 |
| ·星载计算机 | 第14-15页 |
| ·空间辐射环境对星载计算机的影响 | 第15-16页 |
| ·计算机容错技术 | 第16-18页 |
| ·可靠性分析 | 第18页 |
| ·研究现状 | 第18-23页 |
| ·星载计算机的硬件容错设计 | 第18-20页 |
| ·存储系统的可靠分析 | 第20-21页 |
| ·计算机系统的可靠分析 | 第21-23页 |
| ·研究内容与创新点 | 第23-24页 |
| ·论文结构 | 第24-26页 |
| 第二章 可靠性和随机过程基本知识 | 第26-37页 |
| ·可靠性概述 | 第26-32页 |
| ·基本概念 | 第26-29页 |
| ·可靠性模型 | 第29-32页 |
| ·随机过程基本理论 | 第32-36页 |
| ·随机过程的定义 | 第33页 |
| ·Poisson 过程 | 第33-35页 |
| ·Markov 过程 | 第35-36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 第三章 星载计算机的硬件容错设计 | 第37-55页 |
| ·可通信的高可靠双机温备方案 | 第37-43页 |
| ·备份工作方式的选择 | 第37-38页 |
| ·双机温备方案的简易实现 | 第38-40页 |
| ·可通信的高可靠双机温备方案 | 第40-43页 |
| ·具有刷新功能的存储器容错技术 | 第43-48页 |
| ·SRAM 的容错设计 | 第44-45页 |
| ·FLASH 的容错设计 | 第45-46页 |
| ·存储器的刷新机制 | 第46-48页 |
| ·重启时间可控的抗SEL 电路设计 | 第48-52页 |
| ·抗SEL 解决方案 | 第48页 |
| ·抗SEL 的基础电路 | 第48-50页 |
| ·重启时间可控的抗SEL 电路 | 第50-52页 |
| ·星载计算机原型系统 | 第52-53页 |
| ·CPU 板 | 第53页 |
| ·电源仲裁板 | 第53页 |
| ·本章小结 | 第53-55页 |
| 第四章 星载计算机存储系统的可靠性分析 | 第55-67页 |
| ·SEU 的量化描述 | 第55-57页 |
| ·具有刷新功能的三模冗余存储系统的Markov 模型 | 第57-61页 |
| ·符号与假设 | 第57页 |
| ·系统概述 | 第57-58页 |
| ·系统的Markov 模型 | 第58-59页 |
| ·系统的可靠性分析 | 第59-61页 |
| ·纠一检二存储系统的同位多次故障模型 | 第61-66页 |
| ·基本假设与符号定义 | 第61页 |
| ·单个码字的可靠性 | 第61-63页 |
| ·存储系统的可靠性 | 第63-65页 |
| ·模型验证 | 第65-66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| 第五章 星载计算机系统的可靠性分析 | 第67-80页 |
| ·硬件子系统的可靠性分析 | 第67-71页 |
| ·CPU 板的可靠性分析 | 第67-69页 |
| ·双机温备系统的可靠性分析 | 第69-71页 |
| ·软件子系统的可靠性分析 | 第71-75页 |
| ·软件可靠性概述 | 第71-72页 |
| ·G-O/NHPP 软件可靠性模型 | 第72页 |
| ·考虑切换时间的双机温备系统可靠性分析 | 第72-75页 |
| ·软硬件结合的星载计算机系统可靠性分析 | 第75-79页 |
| ·软硬件结合的CPU 板可靠性分析 | 第75-77页 |
| ·软硬件结合的双机温备系统可靠性分析 | 第77-79页 |
| ·本章小结 | 第79-80页 |
| 第六章 结束语 | 第80-82页 |
| ·本文研究总结 | 第80-81页 |
| ·未来工作展望 | 第81-82页 |
| 致谢 | 第82-83页 |
| 参考文献 | 第83-90页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第90页 |