| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-18页 |
| ·课题研究背景 | 第11-16页 |
| ·DSP 及其系统开发概述 | 第11-13页 |
| ·片内调试技术概述 | 第13-16页 |
| ·研究目的与主要工作 | 第16-17页 |
| ·文章组织结构 | 第17-18页 |
| 第二章 RDSP 体系结构与可调试性需求分析 | 第18-26页 |
| ·RDSP 简介 | 第18-23页 |
| ·rDSP 体系架构 | 第18-19页 |
| ·rDSP 总线结构 | 第19-20页 |
| ·rDSP 中央处理单元(CPU) | 第20-21页 |
| ·rDSP 流水线概述 | 第21-22页 |
| ·rDSP 存储空间 | 第22页 |
| ·rDSP 片上外设 | 第22-23页 |
| ·RDSP 可调试性需求分析 | 第23-25页 |
| ·小结 | 第25-26页 |
| 第三章 RDSP 可测试性设计 | 第26-45页 |
| ·可测试性技术(DFT) | 第26-31页 |
| ·可测试性设计的准则 | 第27页 |
| ·可测试性设计的目标 | 第27-28页 |
| ·可测试性技术的分类 | 第28-31页 |
| ·RDSP 的JTAG 边界扫描设计 | 第31-44页 |
| ·rDSP 的JTAG 边界扫描体系 | 第31-33页 |
| ·JTAG 引脚 | 第33页 |
| ·TAP 控制器 | 第33-37页 |
| ·指令寄存器 | 第37-39页 |
| ·JTAG 标准指令 | 第39-41页 |
| ·数据寄存器组 | 第41-42页 |
| ·边界扫描单元结构 | 第42-44页 |
| ·小结 | 第44-45页 |
| 第四章 RDSP 的片内调试系统设计 | 第45-73页 |
| ·RDSP 片内调试结构分析 | 第45-49页 |
| ·IEEE-ISTO 5001~(TM)-1999 片内调试标准 | 第45-47页 |
| ·rDSP 片内调试的系统结构 | 第47-49页 |
| ·基于扩展JTAG 的片内调试系统设计 | 第49-51页 |
| ·扩展的JTAG 调试指令 | 第51-52页 |
| ·调试扫描链设计 | 第52-56页 |
| ·调试扫描链及其功能 | 第52-56页 |
| ·扫描链选择寄存器 | 第56页 |
| ·片内调试单元的运行控制 | 第56-63页 |
| ·片内调试单元与流水线的交互 | 第57-58页 |
| ·片内调试单元结构及功能 | 第58-62页 |
| ·系统时钟控制和系统状态切换 | 第62-63页 |
| ·片内调试功能的设计实现 | 第63-71页 |
| ·断点机制的实现 | 第63-69页 |
| ·单步调试的实现 | 第69-71页 |
| ·片内调试系统逻辑综合结果 | 第71-72页 |
| ·小结 | 第72-73页 |
| 第五章 RDSP 调试系统的验证 | 第73-81页 |
| ·验证方法及策略 | 第73-75页 |
| ·RDSP 调试系统的功能验证 | 第75-80页 |
| ·小结 | 第80-81页 |
| 第六章 结束语 | 第81-83页 |
| ·工作总结 | 第81页 |
| ·工作展望 | 第81-83页 |
| 参考文献 | 第83-86页 |
| 致谢 | 第86-87页 |
| 攻读硕士学位期间已发表或录用的论文 | 第87页 |