半导电聚合物表面突起测量仪的研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| ·课题研究的背景和意义 | 第10-11页 |
| ·国内外基于CCD 三维测量技术的现状 | 第11-14页 |
| ·主动式测量技术 | 第11-13页 |
| ·被动式测量技术 | 第13-14页 |
| ·三维测量技术的发展 | 第14-15页 |
| ·国外发展现状 | 第14-15页 |
| ·国内发展现状 | 第15页 |
| ·本文主要内容 | 第15-16页 |
| 第2章 线结构光原理方案设计 | 第16-24页 |
| ·线结构光法原理 | 第16-19页 |
| ·三维测量系统原理 | 第16-18页 |
| ·检测系统的组成及工作原理 | 第18-19页 |
| ·光源和照明方式 | 第19-20页 |
| ·CCD 器件的选择 | 第20-22页 |
| ·光学系统 | 第22-23页 |
| ·本章小结 | 第23-24页 |
| 第3章 激光条纹图像处理算法研究 | 第24-38页 |
| ·图像分割 | 第24-29页 |
| ·激光光条中心的提取 | 第29-35页 |
| ·边缘法 | 第29-30页 |
| ·极值法 | 第30-32页 |
| ·灰度重心法 | 第32-33页 |
| ·Hessian 矩阵方法 | 第33-34页 |
| ·曲线拟合法 | 第34-35页 |
| ·条纹中心提取实验比较 | 第35-36页 |
| ·实验结果分析 | 第36-37页 |
| ·本章小结 | 第37-38页 |
| 第4章 光学三角形法检测方案设计 | 第38-48页 |
| ·突起检测原理 | 第38-39页 |
| ·检测系统组成原理 | 第39页 |
| ·图像分割 | 第39-41页 |
| ·二值数学形态学 | 第41-42页 |
| ·开运算处理方法设计 | 第42-44页 |
| ·连通域检测标记 | 第44-45页 |
| ·检测原理及标记 | 第44-45页 |
| ·实验结果分析与上位机软件设计 | 第45-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 结论 | 第48-49页 |
| 参考文献 | 第49-52页 |
| 致谢 | 第52页 |
