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球面光学元件表面193nm增透膜光谱均匀性优化技术研究

摘要第4-6页
abstract第6-7页
第1章 绪论第14-28页
    1.1 193nm镀膜技术应用背景第14-18页
    1.2 193nm光刻机镀膜技术难点第18-24页
        1.2.1 镀膜材料和方法第19-20页
        1.2.2 薄膜厚度均匀性第20-23页
        1.2.3 膜系设计第23-24页
    1.3 193nm光刻机镀膜技术进展第24-27页
        1.3.1 厚度均匀性修正方法进展第24-26页
        1.3.2 增透膜设计方法进展第26-27页
    1.4 本论文的研究目的与主要研究内容第27-28页
第2章 实验和分析方法第28-44页
    2.1 镀膜方法第28-31页
        2.1.1 镀膜设备介绍第28-30页
        2.1.2 测试基板第30-31页
        2.1.3 工艺流程第31页
    2.2 薄膜表征方法第31-36页
        2.2.1 微结构测量设备第32-33页
        2.2.2 光学特征测量设备第33-36页
    2.3 薄膜设计方法第36-43页
        2.3.1 光学导纳矩阵方法第37-40页
        2.3.2 镀膜基板光谱计算第40-41页
        2.3.3 多参数优化第41-43页
    2.4 本章小结第43-44页
第3章 球面光学元件上薄膜厚度均匀性优化第44-62页
    3.1 均匀性修正挡板设计第44-51页
        3.1.1 理论基础第44-47页
        3.1.2 修正挡板的建模方法第47-48页
        3.1.3 修正挡板的设计方法第48-51页
    3.2 膜厚均匀性的理论优化第51-55页
    3.3 沉积模型优化第55-59页
        3.3.1 厚度均匀性的实验测量第55-56页
        3.3.2 沉积模型优化第56-59页
    3.4 结果和讨论第59-60页
    3.5 本章小结第60-62页
第4章 球面光学元件上氟化物单层膜的性质第62-80页
    4.1 研究背景第62-63页
    4.2 单层膜镀膜参数优化第63-66页
        3.4.1 基板处理方式第63-65页
        3.4.2 沉积速率第65-66页
    4.3 单层膜微结构第66-73页
        4.3.1 微结构测量方法第66-67页
        4.3.2 薄膜倾角第67-68页
        4.3.3 矢量束流生长模型第68-72页
        4.3.4 倾角对生长模式的修正第72-73页
    4.4 氟化物单层膜光谱性质第73-79页
        4.4.1 理想单层膜的光谱第73-75页
        4.4.2 氟化物单层膜光谱第75-79页
    4.5 本章小结第79-80页
第5章 球面光学元件上增透膜光谱均匀性第80-102页
    5.1 宽角度入射增透膜设计理论第80-84页
        5.1.1 增透膜设计的解析方法第80-81页
        5.1.2 增透膜设计的数值方法第81页
        5.1.3 入射角度和增透膜带宽的关系第81-84页
    5.2 氟化物增透膜设计和制备问题第84-86页
    5.3 光谱特征优化第86-93页
        5.3.1 单层膜厚度的准确确定第86-89页
        5.3.2 界面粗糙度的确定第89-90页
        5.3.3 折射率非均匀性对光谱的影响第90-92页
        5.3.4 宽角度入射增透膜光谱的优化第92-93页
    5.4 球面光学元件上增透膜的光谱均匀性第93-97页
        5.4.1 单层膜厚度均匀性模拟第93-94页
        5.4.2 增透膜光谱均匀性优化第94-97页
    5.5 增透膜光学损耗第97-99页
    5.6 本章小结第99-102页
第6章 总结与展望第102-106页
    6.1 本论文的主要研究内容第102页
    6.2 本论文的主要创新点第102-103页
    6.3 论文工作对光刻机系统研发的意义第103-104页
    6.4 后续工作展望第104-106页
参考文献第106-112页
致谢第112-114页
作者简历及攻读学位期间发表的学术论文与研究成果第114-115页

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