二阶自相关MEC和MCE控制图改进
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 研究的背景及意义 | 第9页 |
| 1.2 质量管理 | 第9-10页 |
| 1.3 自相关过程控制图国内外研究现状 | 第10-12页 |
| 1.3.1 国外研究现状 | 第11-12页 |
| 1.3.2 国内研究现状 | 第12页 |
| 1.4 常规控制图概述 | 第12-14页 |
| 1.4.1 统计过程控制的两种原因 | 第13页 |
| 1.4.2 统计过程控制的两种状态 | 第13-14页 |
| 1.5 本文的研究内容及结构 | 第14-15页 |
| 第2章 二阶自相关残差控制图 | 第15-24页 |
| 2.1 AR(2)残差控制图ARL | 第15-18页 |
| 2.1.1 AR(2)残差序列 | 第15-16页 |
| 2.1.2 AR(2)残差控制图ARL对比 | 第16-18页 |
| 2.2 残差控制图数值模拟对比 | 第18-22页 |
| 2.2.1 残差Shewhart控制图 | 第18-20页 |
| 2.2.2 残差EWMA控制图 | 第20-21页 |
| 2.2.3 残差CUSUM控制图 | 第21-22页 |
| 2.3 残差控制图的具体流程 | 第22-23页 |
| 2.4 本章小结 | 第23-24页 |
| 第3章 残差混合控制图 | 第24-30页 |
| 3.1 MEC控制图 | 第24页 |
| 3.2 MCE控制图 | 第24-25页 |
| 3.3 控制图性能对比和分析 | 第25-29页 |
| 3.3.1 残差控制图ARL | 第25-28页 |
| 3.3.2 残差控制图EQL | 第28-29页 |
| 3.4 本章小结 | 第29-30页 |
| 第4章 残差混合控制图实例分析 | 第30-45页 |
| 4.1 样本数据的收集 | 第30-32页 |
| 4.2 控制图类型的选择 | 第32-36页 |
| 4.3 自相关残差控制图 | 第36-44页 |
| 4.4 本章小结 | 第44-45页 |
| 结论 | 第45-46页 |
| 参考文献 | 第46-50页 |
| 攻读硕士学位期间承担的科研任务与主要成果 | 第50-51页 |
| 致谢 | 第51页 |
