| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 第1章 概论 | 第9-18页 |
| 1.1 场效应晶体管 | 第9-10页 |
| 1.2 新型低维纳米材料 | 第10-15页 |
| 1.2.1 富勒烯 | 第11页 |
| 1.2.2 碳纳米管 | 第11-12页 |
| 1.2.3 石墨烯 | 第12-13页 |
| 1.2.4 石墨炔 | 第13-14页 |
| 1.2.5 过渡金属硫族化合物 | 第14-15页 |
| 1.3 论文研究目的和研究内容 | 第15-18页 |
| 第2章 固体能带理论 | 第18-31页 |
| 2.1 多粒子薛定谔方程 | 第18-20页 |
| 2.1.1 非相对论近似 | 第19页 |
| 2.1.2 波恩‐奥本海默近似 | 第19-20页 |
| 2.1.3 单电子近似 | 第20页 |
| 2.2 Hartree-Fock 理论 | 第20-21页 |
| 2.2.1 Hartree 理论 | 第20页 |
| 2.2.2 Hartree-Fock 理论 | 第20-21页 |
| 2.3 密度泛函理论 | 第21-24页 |
| 2.3.1 Hohenberg-Kohn 定理 | 第22页 |
| 2.3.2 Kohn-Sham 定理 | 第22-23页 |
| 2.3.3 交换关联泛函 | 第23-24页 |
| 2.4 平面波基组下的周期性结构中电子能带计算 | 第24-28页 |
| 2.4.1 Bloch 定理 | 第24页 |
| 2.4.2 能带结构 | 第24-25页 |
| 2.4.3 态密度 | 第25页 |
| 2.4.4 有效质量 | 第25-27页 |
| 2.4.5 平面波基组 | 第27页 |
| 2.4.6 赝势方法 | 第27-28页 |
| 2.5 声子 | 第28-31页 |
| 第3章 电荷传输的实验与理论 | 第31-45页 |
| 3.1 迁移率的测量方法 | 第31-34页 |
| 3.1.1 飞行时间法 | 第31-32页 |
| 3.1.2 场效应晶体管法 | 第32-33页 |
| 3.1.3 霍尔效应法 | 第33-34页 |
| 3.2 影响迁移率的因素 | 第34-35页 |
| 3.3 电荷传输理论 | 第35-37页 |
| 3.3.1 跳跃模型 | 第35页 |
| 3.3.2 能带模型 | 第35-36页 |
| 3.3.3 极化子模型 | 第36-37页 |
| 3.4 玻尔兹曼输运理论和电声相互作用 | 第37-45页 |
| 3.4.1 玻尔兹曼输运理论 | 第37-40页 |
| 3.4.2 电声相互作用和散射时间 | 第40-43页 |
| 3.4.3 基于形变势理论和有效质量近似的迁移率 | 第43-45页 |
| 第4章 单层和双层石墨烯迁移率的理论预测 | 第45-54页 |
| 4.1 研究背景 | 第45页 |
| 4.2 理论方法 | 第45-49页 |
| 4.2.1 长声学波形变势理论 | 第45-47页 |
| 4.2.2 散射时间和迁移率 | 第47-48页 |
| 4.2.3 数值参数化 | 第48-49页 |
| 4.3 计算结果与讨论 | 第49-52页 |
| 4.3.1 计算参数 | 第49页 |
| 4.3.2 电子结构、形变势常数和弹性常数 | 第49-52页 |
| 4.3.3 载流子迁移率 | 第52页 |
| 4.4 小结 | 第52-54页 |
| 第5章 二维石墨炔电声相互作用及迁移率的理论预测 | 第54-79页 |
| 5.1 研究背景 | 第54-56页 |
| 5.1.1 二维石墨炔 | 第54页 |
| 5.1.2 电声相互作用 | 第54-56页 |
| 5.2 理论方法 | 第56-62页 |
| 5.2.1 密度泛函微扰理论 | 第56-58页 |
| 5.2.2 最大局域瓦尼尔函数 | 第58-59页 |
| 5.2.3 瓦尼尔插值法 | 第59-62页 |
| 5.3 计算结果与讨论 | 第62-78页 |
| 5.3.1 计算参数 | 第62-63页 |
| 5.3.2 瓦尼尔插值精度 | 第63-66页 |
| 5.3.3 石墨炔的电子结构和声子结构 | 第66-70页 |
| 5.3.4 石墨炔的电声相互作用和形变势 | 第70-75页 |
| 5.3.5 石墨炔的载流子散射时间和迁移率 | 第75-78页 |
| 5.4 小结 | 第78-79页 |
| 第6章 单层 W_xMo_1-xS_2合金电子结构的理论预测 | 第79-96页 |
| 6.1 研究背景 | 第79-80页 |
| 6.2 理论方法 | 第80-84页 |
| 6.2.1 无序合金模拟方法 | 第80页 |
| 6.2.2 有效能带近似 | 第80-83页 |
| 6.2.3 真空能级校准 | 第83-84页 |
| 6.3 计算结果与讨论 | 第84-94页 |
| 6.3.1 自旋轨道耦合效应 | 第85-86页 |
| 6.3.2 单层 W_xMo_1-xS_2合金带隙与 W 掺杂浓度的关系 | 第86-88页 |
| 6.3.3 单层 W_xMo_1-xS_2合金有效质量与 W 掺杂浓度的关系 | 第88-93页 |
| 6.3.4 单层 W_xMo_1-xS_2合金导电极性与 W 掺杂浓度的关系 | 第93页 |
| 6.3.5 单层 W_xMo_1-xS_2合金的稳定性 | 第93-94页 |
| 6.4 小结 | 第94-96页 |
| 第7章 总结与展望 | 第96-98页 |
| 参考文献 | 第98-109页 |
| 致谢 | 第109-111页 |
| 个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第111-112页 |
