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相关、对称FIR算法的并行化设计及硬件实现

摘要第4-6页
Abstract第6-7页
1 绪论第12-20页
    1.1 可重构处理器第12-13页
    1.2 数字信号处理算法的硬件设计第13-16页
        1.2.1 FIR算法第13-15页
        1.2.2 互相关算法第15-16页
        1.2.3 自相关算法第16页
    1.3 芯片验证技术第16-19页
        1.3.1 验证语言的发展第17页
        1.3.2 验证结构的发展第17-18页
        1.3.3 高级验证方法学第18-19页
    1.4 论文主要工作及结构第19页
    1.5 论文课题来源第19-20页
2 可重构专用处理器架构第20-26页
    2.1 异构多核SoC系统架构第20页
    2.2 RASP核内部架构第20-22页
    2.3 重构操作详细流程第22-24页
    2.4 重构控制器第24-25页
    2.5 本章小结第25-26页
3 相关、对称FIR算法的并行设计实现第26-53页
    3.1 技术协议及分析第26-27页
        3.1.1 技术指标第26页
        3.1.2 设计方案第26-27页
        3.1.3 设计难点第27页
    3.2 乘累加器设计第27-30页
    3.3 自相关算法并行设计第30-38页
        3.3.1 算法简介第30页
        3.3.2 算法并行设计第30-32页
        3.3.3 基于RASP核的硬件设计方案第32-36页
        3.3.4 仿真波形及结果分析第36-38页
    3.4 互相关算法并行设计第38-45页
        3.4.1 算法简介第38-39页
        3.4.2 算法并行设计第39-40页
        3.4.3 基于RASP核的硬件设计方案第40-43页
        3.4.4 仿真波形及结果分析第43-45页
    3.5 对称FIR算法并行设计第45-51页
        3.5.1 算法简介第45页
        3.5.2 算法并行设计第45-48页
        3.5.3 基于RASP核的硬件设计方案第48-49页
        3.5.4 仿真波形及结果分析第49-51页
    3.6 本章小结第51-53页
4 基于三类测试平台的功能验证第53-66页
    4.1 基于传统测试平台的功能验证第53-57页
        4.1.1 测试环境描述第53-54页
        4.1.2 测试内容第54-57页
    4.2 原型FPGA芯片验证第57-61页
        4.2.1 FPGA验证平台介绍第58-59页
        4.2.2 平台测试方法第59-60页
        4.2.3 测试内容第60-61页
    4.3 基于UVM平台的功能验证第61-65页
        4.3.1 平台介绍第61-62页
        4.3.2 代码图示第62-64页
        4.3.3 覆盖率分析第64-65页
    4.4 本章小结第65-66页
5 总结与展望第66-68页
    5.1 工作总结第66页
    5.2 工作展望第66-68页
参考文献第68-75页
攻读硕士学位期间发表论文和取得的成果第75-76页
致谢第76-77页

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