| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第10-17页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第10页 |
| 1.2 辨别变压器励磁涌流与内部故障的研究现状 | 第10-15页 |
| 1.3 论文的主要工作 | 第15-17页 |
| 第二章 变压器差动保护原理及励磁涌流分析 | 第17-26页 |
| 2.1 变压器差动保护的基本原理 | 第17-20页 |
| 2.2 励磁涌流的产生及其特点 | 第20-25页 |
| 2.2.1 单相变压器空载合闸的励磁涌流 | 第20-22页 |
| 2.2.2 三相变压器空载合闸的励磁涌流 | 第22-23页 |
| 2.2.3 外部故障切除电压恢复时的励磁涌流 | 第23-25页 |
| 2.3 本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 基于 PSCAD/EMTDC 的变压器励磁涌流与内部故障仿真分析 | 第26-46页 |
| 3.1 变压器模型的选取 | 第26-27页 |
| 3.2 励磁涌流的仿真 | 第27-36页 |
| 3.2.1 空载合闸的励磁涌流仿真 | 第27-34页 |
| 3.2.2 恢复性涌流仿真 | 第34-36页 |
| 3.3 内部故障电流仿真 | 第36-41页 |
| 3.4 合闸于轻微匝间故障的电流仿真 | 第41-42页 |
| 3.5 CT 饱和时的电流仿真 | 第42-43页 |
| 3.6 励磁涌流与内部故障电流波形特征分析 | 第43-45页 |
| 3.7 本章小结 | 第45-46页 |
| 第四章 数学形态学快速辨别励磁涌流与内部故障的方法 | 第46-61页 |
| 4.1 数学形态学基本运算 | 第46-48页 |
| 4.2 数学形态学的端点效应 | 第48-49页 |
| 4.3 改进的数学形态学梯度运算 | 第49-51页 |
| 4.4 基于数学形态学的电流辨别方法 | 第51-60页 |
| 4.4.1 不考虑 CT 饱和情况的电流辨别 | 第52-56页 |
| 4.4.2 考虑 CT 饱和情况的电流辨别 | 第56-58页 |
| 4.4.3 数学形态学快速辨别励磁涌流与内部故障的流程 | 第58-60页 |
| 4.5 本章小结 | 第60-61页 |
| 第五章 励磁涌流与内部故障辨别方法的验证 | 第61-82页 |
| 5.1 采用 PSCAD 仿真数据验证 | 第61-75页 |
| 5.1.1 空载合闸励磁涌流 | 第61-65页 |
| 5.1.2 恢复性涌流 | 第65-66页 |
| 5.1.3 存在剩磁情况下的励磁涌流 | 第66-69页 |
| 5.1.4 内部故障电流 | 第69-71页 |
| 5.1.5 合闸于轻微匝间故障的差动电流 | 第71-72页 |
| 5.1.6 CT 饱和情况下的励磁涌流 | 第72-73页 |
| 5.1.7 CT 饱和情况下的内部故障电流 | 第73-75页 |
| 5.2 采用动模实验仿真数据验证 | 第75-80页 |
| 5.2.1 变压器空投试验 | 第76-77页 |
| 5.2.2 变压器区内金属性故障 | 第77-79页 |
| 5.2.3 空投于故障变压器 | 第79-80页 |
| 5.3 本章小结 | 第80-82页 |
| 第六章 励磁涌流与内部故障辨别方法的硬件实现 | 第82-107页 |
| 6.1 硬件电路设计 | 第82-85页 |
| 6.1.1 FPGA 芯片 | 第83-84页 |
| 6.1.2 存储器件 | 第84页 |
| 6.1.3 信号采样模块 | 第84-85页 |
| 6.2 硬件电路板的制作 | 第85-90页 |
| 6.3 励磁涌流与内部故障辨别程序的设计 | 第90-98页 |
| 6.3.1 uC/OS Ⅱ 实时操作系统 | 第90-91页 |
| 6.3.2 Nios Ⅱ嵌入式处理器 | 第91页 |
| 6.3.3 Quartus Ⅱ的 FPGA 开发 | 第91-97页 |
| 6.3.4 Nios Ⅱ IDE 的程序设计 | 第97-98页 |
| 6.4 测试系统 | 第98-100页 |
| 6.5 测试结果及其分析 | 第100-106页 |
| 6.6 本章小结 | 第106-107页 |
| 第七章 结论与展望 | 第107-109页 |
| 7.1 结论 | 第107-108页 |
| 7.2 展望 | 第108-109页 |
| 参考文献 | 第109-114页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第114-115页 |
| 致谢 | 第115-116页 |
| 附件 | 第116页 |
