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中国散裂中子源Back-n数字化触发方法研究

摘要第5-7页
ABSTRACT第7-8页
第1章 引言第13-31页
    1.1 中子核数据测量第13-14页
    1.2 中子源第14-18页
        1.2.1 中子源的分类第14-17页
        1.2.2 中国散裂中子源第17-18页
    1.3 CSNS反角白光中子源第18-26页
        1.3.1 Back-n谱仪第21-26页
        1.3.2 Back-n触发系统设计挑战第26页
    1.4 本论文研究内容及结构安排第26-28页
    参考文献第28-31页
第2章 核与粒子物理实验中的触发方法第31-49页
    2.1 核电子学系统及触发第31-32页
    2.2 北京谱仪第32-33页
    2.3 ATLAS液氩量能器第33-37页
    2.4 GTAF谱仪第37-39页
    2.5 DANCE谱仪第39-41页
    2.6 n_TOF第41-43页
    2.7 小结第43-45页
    参考文献第45-49页
第3章 数字化触发平台研制第49-77页
    3.1 Back-n数字化触发架构第49-52页
    3.2 Back-n数字化触发平台方案第52-66页
        3.2.1 共用设计思路第52-53页
        3.2.2 PXIe平台简介第53-55页
        3.2.3 基于PXIe平台的数字化触发平台架构第55-57页
        3.2.4 时钟的产生与分发第57-60页
        3.2.5 触发汇聚与分发第60-62页
        3.2.6 中子飞行时间测量第62-66页
    3.3 数字化触发平台硬件研制第66-73页
        3.3.1 模拟信号调理模块第66-68页
        3.3.2 波形数字化模块第68-69页
        3.3.3 时钟与触发模块第69-71页
        3.3.4 T0扇出模块第71-73页
    参考文献第73-77页
第4章 数字化触发方法及实现第77-107页
    4.1 Back-n各谱仪触发需求第77-80页
        4.1.1 C_6D_6探测器触发需求第77页
        4.1.2 FIXM与NTOX触发需求第77-78页
        4.1.3 LPDA触发需求第78-79页
        4.1.4 GTAF-Ⅱ及GTAF-Ⅲ触发需求第79-80页
    4.2 子触发信息的提取第80-88页
        4.2.1 S1级触发第81-83页
        4.2.2 S2级触发第83-88页
    4.3 子触发信息的汇聚第88-95页
        4.3.1 机箱内子触发汇聚第89-93页
        4.3.2 机箱间子触发汇聚第93-95页
    4.4 总触发信号的产生第95-96页
    4.5 总触发信号的分发第96-101页
        4.5.1 机箱间的总触发分发第97-100页
        4.5.2 机箱内的总触发分发第100-101页
    4.6 FDM对触信号的处理第101-103页
        4.6.1 通道零压缩及多重触发处理第101-102页
        4.6.2 触发延时及触发晃动第102-103页
    参考文献第103-107页
第5章 基于机器学习的数字化触发方法第107-127页
    5.1 机器学习在触发系统中的应用第107-109页
    5.2 常见机器学习方法第109-114页
        5.2.1 神经网络第109-111页
        5.2.2 决策树第111-112页
        5.2.3 集成学习第112-113页
        5.2.4 聚类第113-114页
    5.3 应用机器学习的数字化触发架构第114-115页
    5.4 S2级触发的实现第115-123页
        5.4.1 波形特征选取第115-116页
        5.4.2 测试训练集的产生第116-117页
        5.4.3 训练及性能评估第117-121页
        5.4.4 特征提取及分类器的FPGA实现第121-123页
    参考文献第123-127页
第6章 测试与验证第127-157页
    6.1 数据传输性能测试第127-130页
        6.1.1 PXIe_DSTARB及PXIe_DSTARC通道传输性能测试第127-129页
        6.1.2 高速串行通道传输性能测试第129-130页
    6.2 时钟性能测试第130-133页
    6.3 FDM ADC性能测试第133-139页
    6.4 TOF时间测量性能测试第139-142页
    6.5 通道同步性能测试第142-145页
    6.6 数字化触发功能验证第145-148页
    6.7 S2级触发性能测试第148-151页
    6.8 系统联调第151-153页
    6.9 在束实验第153-154页
    参考文献第154-157页
第7章 总结与展望第157-161页
    7.1 工作总结第157-158页
    7.2 工作创新点第158页
    7.3 展望第158-161页
附录第161-163页
致谢第163-165页
在读期间发表的学术论文第165页

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