摘要 | 第5-7页 |
ABSTRACT | 第7-8页 |
第1章 引言 | 第13-31页 |
1.1 中子核数据测量 | 第13-14页 |
1.2 中子源 | 第14-18页 |
1.2.1 中子源的分类 | 第14-17页 |
1.2.2 中国散裂中子源 | 第17-18页 |
1.3 CSNS反角白光中子源 | 第18-26页 |
1.3.1 Back-n谱仪 | 第21-26页 |
1.3.2 Back-n触发系统设计挑战 | 第26页 |
1.4 本论文研究内容及结构安排 | 第26-28页 |
参考文献 | 第28-31页 |
第2章 核与粒子物理实验中的触发方法 | 第31-49页 |
2.1 核电子学系统及触发 | 第31-32页 |
2.2 北京谱仪 | 第32-33页 |
2.3 ATLAS液氩量能器 | 第33-37页 |
2.4 GTAF谱仪 | 第37-39页 |
2.5 DANCE谱仪 | 第39-41页 |
2.6 n_TOF | 第41-43页 |
2.7 小结 | 第43-45页 |
参考文献 | 第45-49页 |
第3章 数字化触发平台研制 | 第49-77页 |
3.1 Back-n数字化触发架构 | 第49-52页 |
3.2 Back-n数字化触发平台方案 | 第52-66页 |
3.2.1 共用设计思路 | 第52-53页 |
3.2.2 PXIe平台简介 | 第53-55页 |
3.2.3 基于PXIe平台的数字化触发平台架构 | 第55-57页 |
3.2.4 时钟的产生与分发 | 第57-60页 |
3.2.5 触发汇聚与分发 | 第60-62页 |
3.2.6 中子飞行时间测量 | 第62-66页 |
3.3 数字化触发平台硬件研制 | 第66-73页 |
3.3.1 模拟信号调理模块 | 第66-68页 |
3.3.2 波形数字化模块 | 第68-69页 |
3.3.3 时钟与触发模块 | 第69-71页 |
3.3.4 T0扇出模块 | 第71-73页 |
参考文献 | 第73-77页 |
第4章 数字化触发方法及实现 | 第77-107页 |
4.1 Back-n各谱仪触发需求 | 第77-80页 |
4.1.1 C_6D_6探测器触发需求 | 第77页 |
4.1.2 FIXM与NTOX触发需求 | 第77-78页 |
4.1.3 LPDA触发需求 | 第78-79页 |
4.1.4 GTAF-Ⅱ及GTAF-Ⅲ触发需求 | 第79-80页 |
4.2 子触发信息的提取 | 第80-88页 |
4.2.1 S1级触发 | 第81-83页 |
4.2.2 S2级触发 | 第83-88页 |
4.3 子触发信息的汇聚 | 第88-95页 |
4.3.1 机箱内子触发汇聚 | 第89-93页 |
4.3.2 机箱间子触发汇聚 | 第93-95页 |
4.4 总触发信号的产生 | 第95-96页 |
4.5 总触发信号的分发 | 第96-101页 |
4.5.1 机箱间的总触发分发 | 第97-100页 |
4.5.2 机箱内的总触发分发 | 第100-101页 |
4.6 FDM对触信号的处理 | 第101-103页 |
4.6.1 通道零压缩及多重触发处理 | 第101-102页 |
4.6.2 触发延时及触发晃动 | 第102-103页 |
参考文献 | 第103-107页 |
第5章 基于机器学习的数字化触发方法 | 第107-127页 |
5.1 机器学习在触发系统中的应用 | 第107-109页 |
5.2 常见机器学习方法 | 第109-114页 |
5.2.1 神经网络 | 第109-111页 |
5.2.2 决策树 | 第111-112页 |
5.2.3 集成学习 | 第112-113页 |
5.2.4 聚类 | 第113-114页 |
5.3 应用机器学习的数字化触发架构 | 第114-115页 |
5.4 S2级触发的实现 | 第115-123页 |
5.4.1 波形特征选取 | 第115-116页 |
5.4.2 测试训练集的产生 | 第116-117页 |
5.4.3 训练及性能评估 | 第117-121页 |
5.4.4 特征提取及分类器的FPGA实现 | 第121-123页 |
参考文献 | 第123-127页 |
第6章 测试与验证 | 第127-157页 |
6.1 数据传输性能测试 | 第127-130页 |
6.1.1 PXIe_DSTARB及PXIe_DSTARC通道传输性能测试 | 第127-129页 |
6.1.2 高速串行通道传输性能测试 | 第129-130页 |
6.2 时钟性能测试 | 第130-133页 |
6.3 FDM ADC性能测试 | 第133-139页 |
6.4 TOF时间测量性能测试 | 第139-142页 |
6.5 通道同步性能测试 | 第142-145页 |
6.6 数字化触发功能验证 | 第145-148页 |
6.7 S2级触发性能测试 | 第148-151页 |
6.8 系统联调 | 第151-153页 |
6.9 在束实验 | 第153-154页 |
参考文献 | 第154-157页 |
第7章 总结与展望 | 第157-161页 |
7.1 工作总结 | 第157-158页 |
7.2 工作创新点 | 第158页 |
7.3 展望 | 第158-161页 |
附录 | 第161-163页 |
致谢 | 第163-165页 |
在读期间发表的学术论文 | 第165页 |