CFETR CS模型线圈电源及磁体保护系统设计与分析
| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第一章 绪论 | 第13-31页 |
| 1.1 聚变能的发展意义 | 第13-14页 |
| 1.2 国内外托卡马克装置的发展 | 第14-18页 |
| 1.3 国内外磁体电源发展现状 | 第18-24页 |
| 1.3.1 EAST极向场线圈电源 | 第18-19页 |
| 1.3.2 KSTAR极向场线圈电源 | 第19-20页 |
| 1.3.3 JT-60SA极向场电源 | 第20-21页 |
| 1.3.4 JET极向场电源 | 第21-22页 |
| 1.3.5 其他磁体电源 | 第22-24页 |
| 1.4 CFETR工程与CS模型线圈 | 第24-30页 |
| 1.4.1 CFETR概况 | 第24-25页 |
| 1.4.2 CFETR CS模型线圈 | 第25-26页 |
| 1.4.3 CS模型线圈测试 | 第26-30页 |
| 1.4.3.1 测试内容 | 第26-27页 |
| 1.4.3.2 测试平台 | 第27-28页 |
| 1.4.3.3 测试电源 | 第28-30页 |
| 1.5 本文研究意义及内容安排 | 第30-31页 |
| 第二章 电源主回路分析与设计 | 第31-64页 |
| 2.1 测试电流波形分析 | 第31-35页 |
| 2.2 主回路设计 | 第35-38页 |
| 2.3 二次换流分析 | 第38-46页 |
| 2.3.1 开关换流技术分析与比较 | 第38-42页 |
| 2.3.2 换流过程分析 | 第42-46页 |
| 2.4 换流电阻与接地电阻设计 | 第46-48页 |
| 2.4.1 换流电阻设计 | 第46-47页 |
| 2.4.1.1 关键参数计算 | 第46-47页 |
| 2.4.1.2 结构设计 | 第47页 |
| 2.4.2 接地电阻参数计算 | 第47-48页 |
| 2.5 电源控制策略分析 | 第48-63页 |
| 2.5.1 直流测试平台策略分析 | 第48-57页 |
| 2.5.1.1 电源结构 | 第48-49页 |
| 2.5.1.2 策略分析 | 第49-51页 |
| 2.5.1.3 电源系统主回路仿真 | 第51-57页 |
| 2.5.2 ITER PF变流器策略分析 | 第57-63页 |
| 2.5.2.1 电源拓扑结构 | 第57-58页 |
| 2.5.2.2 运行模式 | 第58-59页 |
| 2.5.2.3 控制策略分析 | 第59-63页 |
| 2.6 本章小结 | 第63-64页 |
| 第三章 失超保护系统设计 | 第64-87页 |
| 3.1 失超保护方案设计 | 第64-66页 |
| 3.1.1 设计要求 | 第64-65页 |
| 3.1.2 总体设计方案 | 第65-66页 |
| 3.2 失超保护开关设计 | 第66-75页 |
| 3.2.1 失超保护开关选型 | 第67-70页 |
| 3.2.2 直流快速断路器 | 第70-75页 |
| 3.2.2.1 基本结构 | 第70-71页 |
| 3.2.2.2 工作原理与开断过程 | 第71-73页 |
| 3.2.2.3 样机测试 | 第73-75页 |
| 3.3 移能电阻阵列设计 | 第75-82页 |
| 3.3.1 阻值计算 | 第75-77页 |
| 3.3.2 材料选择 | 第77-81页 |
| 3.3.3 结构设计 | 第81-82页 |
| 3.4 换流回路关键部件设计 | 第82-86页 |
| 3.4.1 熔断器 | 第82-84页 |
| 3.4.2 二极管 | 第84-86页 |
| 3.5 本章小结 | 第86-87页 |
| 第四章 失超保护控制系统设计 | 第87-98页 |
| 4.1 引言 | 第87-88页 |
| 4.2 软件保护控制系统设计 | 第88-89页 |
| 4.3 硬件电子线路保护系统设计 | 第89-90页 |
| 4.4 硬件电子线路保护系统的可靠性分析 | 第90-97页 |
| 4.4.1 硬件电子线路保护系统故障树的定性分析 | 第91-95页 |
| 4.4.1.1 系统故障树的建树过程 | 第91-94页 |
| 4.4.1.2 系统故障树的定性分析 | 第94-95页 |
| 4.4.2 硬件电子线路保护系统可靠性定量分析 | 第95-97页 |
| 4.4.2.1 系统可靠性框图的建立 | 第96页 |
| 4.4.2.2 可靠性框图的定量计算 | 第96-97页 |
| 4.5 本章小结 | 第97-98页 |
| 第五章 失超保护开关实验研究 | 第98-109页 |
| 5.1 引言 | 第98页 |
| 5.2 失超保护开关热稳定实验 | 第98-104页 |
| 5.2.1 实验原理 | 第99页 |
| 5.2.2 测量方法 | 第99-100页 |
| 5.2.3 测温点选取 | 第100页 |
| 5.2.4 实验过程及结果分析 | 第100-104页 |
| 5.2.4.1 实验过程 | 第101页 |
| 5.2.4.2 结果分析 | 第101-104页 |
| 5.3 失超保护开关开断性能实验 | 第104-108页 |
| 5.3.1 实验原理 | 第104-105页 |
| 5.3.2 测量方法 | 第105-106页 |
| 5.3.3 测试回路搭建 | 第106-108页 |
| 5.3.3.1 移能电阻 | 第106-107页 |
| 5.3.3.2 熔断器 | 第107-108页 |
| 5.3.3.3 二极管 | 第108页 |
| 5.4 本章小结 | 第108-109页 |
| 第六章 全文总结与展望 | 第109-112页 |
| 6.1 全文总结 | 第109-111页 |
| 6.2 工作展望 | 第111-112页 |
| 参考文献 | 第112-118页 |
| 致谢 | 第118-119页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 | 第119页 |
