基于低端存储器测试平台的A/D转换器测试方案开发与实现
摘要 | 第3-4页 |
Abstract | 第4页 |
第一章 绪论 | 第5-11页 |
1.1 选题依据及意义 | 第5-6页 |
1.2 A/D转换器测试国内外研究状况 | 第6-9页 |
1.3 本课题的主要研究内容和论文的结构 | 第9-10页 |
1.4 本章小结 | 第10-11页 |
第二章 A/D转换器测试参数定义 | 第11-19页 |
2.1 A/D转换器的基本原理 | 第11-12页 |
2.2 A/D转换器的静态参数 | 第12-15页 |
2.3 A/D转换器的动态参数 | 第15-18页 |
2.4 本章小结 | 第18-19页 |
第三章 被测A/D转换器的简介 | 第19-26页 |
3.1 被测A/D转换器特点 | 第19页 |
3.2 逐次逼近型A/D转换器原理 | 第19-21页 |
3.3 被测A/D转换器工作原理 | 第21-25页 |
3.4 本章小节 | 第25-26页 |
第四章 A/D转换器的测试方法 | 第26-34页 |
4.1 A/D转换器测试原理 | 第26-27页 |
4.2 A/D转换器静态参数测试 | 第27-29页 |
4.3 A/D转换器动态参数测试 | 第29-32页 |
4.4 本章小节 | 第32-34页 |
第五章 基于KALOS平台的A/D转换器测试方案 | 第34-46页 |
5.1 KALOS测试系统介绍 | 第34-38页 |
5.2 基于KALOS平台的A/D转换器测试 | 第38-39页 |
5.3 模拟激励信号的产生 | 第39-42页 |
5.4 模拟激励信号的评价 | 第42-45页 |
5.5 本章小节 | 第45-46页 |
第六章 测试结果分析 | 第46-54页 |
6.1 A/D转换器的静态参数测试结果分析 | 第46-50页 |
6.2 A/D转换器动态参数测试结果分析 | 第50-53页 |
6.3 本章小节 | 第53-54页 |
第七章 总结与系统后续优化 | 第54-56页 |
7.1 总结 | 第54-55页 |
7.2 系统的后续优化 | 第55-56页 |
参考文献 | 第56-58页 |
致谢 | 第58-59页 |