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基于低端存储器测试平台的A/D转换器测试方案开发与实现

摘要第3-4页
Abstract第4页
第一章 绪论第5-11页
    1.1 选题依据及意义第5-6页
    1.2 A/D转换器测试国内外研究状况第6-9页
    1.3 本课题的主要研究内容和论文的结构第9-10页
    1.4 本章小结第10-11页
第二章 A/D转换器测试参数定义第11-19页
    2.1 A/D转换器的基本原理第11-12页
    2.2 A/D转换器的静态参数第12-15页
    2.3 A/D转换器的动态参数第15-18页
    2.4 本章小结第18-19页
第三章 被测A/D转换器的简介第19-26页
    3.1 被测A/D转换器特点第19页
    3.2 逐次逼近型A/D转换器原理第19-21页
    3.3 被测A/D转换器工作原理第21-25页
    3.4 本章小节第25-26页
第四章 A/D转换器的测试方法第26-34页
    4.1 A/D转换器测试原理第26-27页
    4.2 A/D转换器静态参数测试第27-29页
    4.3 A/D转换器动态参数测试第29-32页
    4.4 本章小节第32-34页
第五章 基于KALOS平台的A/D转换器测试方案第34-46页
    5.1 KALOS测试系统介绍第34-38页
    5.2 基于KALOS平台的A/D转换器测试第38-39页
    5.3 模拟激励信号的产生第39-42页
    5.4 模拟激励信号的评价第42-45页
    5.5 本章小节第45-46页
第六章 测试结果分析第46-54页
    6.1 A/D转换器的静态参数测试结果分析第46-50页
    6.2 A/D转换器动态参数测试结果分析第50-53页
    6.3 本章小节第53-54页
第七章 总结与系统后续优化第54-56页
    7.1 总结第54-55页
    7.2 系统的后续优化第55-56页
参考文献第56-58页
致谢第58-59页

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