中文摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5页 |
第一章 绪论 | 第8-11页 |
1.1 集成电路测试概述 | 第8-9页 |
1.2 集成电路测试技术的国内外概况 | 第9页 |
1.3 本课题的来源和实际意义 | 第9-10页 |
1.4 本课题完成的主要工作 | 第10-11页 |
第二章 被测元件的特性 | 第11-15页 |
2.1 发光二极管原理 | 第11-12页 |
2.2 被测 LED 产品的品种与结构 | 第12-14页 |
2.3 被测参数和测试要求 | 第14-15页 |
第三章 测试系统的总体设计 | 第15-19页 |
3.1 测试仪概述 | 第15-16页 |
3.2 测试仪工作原理 | 第16-19页 |
第四章 系统的硬件电路设计 | 第19-30页 |
4.1 硬件电路总体设计 | 第19页 |
4.2 C8051F060 单片机系统 | 第19-21页 |
4.3 上下位机的数据通信设计 | 第21-22页 |
4.4 精密测量单元的恒流源 IF、恒压源 VR设计 | 第22-25页 |
4.5 DAC 及相关电路设计 | 第25-26页 |
4.6 ADC 及相关电路设计 | 第26-28页 |
4.7 模拟开关及相关电路设计 | 第28-30页 |
第五章 系统的软件设计 | 第30-46页 |
5.1 系统软件的总体设计思想 | 第30页 |
5.2 系统设计和流程图 | 第30-35页 |
5.3 软件抗干扰处理技术 | 第35-36页 |
5.4 软件升级处理 | 第36页 |
5.5 系统上位机设计流程 | 第36-46页 |
第六章 通信协议 | 第46-52页 |
6.1 通信协议的流程图 | 第46-47页 |
6.2 流程中相应模块对应的程序和通信协议 | 第47-52页 |
第七章 机箱面板设计 | 第52-55页 |
7.1 机箱面板的设计 | 第52-55页 |
第八章 系统安装与调试 | 第55-57页 |
8.1 系统安装 | 第55页 |
8.2 系统调试 | 第55-57页 |
结束语 | 第57-58页 |
参考文献 | 第58-60页 |
致谢 | 第60-61页 |