元器件测试过程质量控制的相关技术研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 符号对照表 | 第9-10页 |
| 缩略语对照表 | 第10-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-19页 |
| 1.1 研究背景 | 第13-14页 |
| 1.2 研究目的与意义 | 第14-15页 |
| 1.2.1 研究的目的 | 第14页 |
| 1.2.2 研究的意义 | 第14-15页 |
| 1.3 国内外现状研究 | 第15-17页 |
| 1.3.1 国外现状研究 | 第15-16页 |
| 1.3.2 国内现状研究 | 第16-17页 |
| 1.4 研究内容与方法 | 第17-19页 |
| 1.4.1 研究内容 | 第17页 |
| 1.4.2 研究方法与框架 | 第17-19页 |
| 第二章 测量系统分析 | 第19-30页 |
| 2.1 测量系统分析和统计过程控制 | 第19页 |
| 2.2 测量系统分析方法 | 第19-22页 |
| 2.3 计量型测试系统 | 第22-27页 |
| 2.3.1 偏倚 | 第22-23页 |
| 2.3.2 稳定性 | 第23页 |
| 2.3.3 线性 | 第23-24页 |
| 2.3.4 分辨力 | 第24-25页 |
| 2.3.5 波动 | 第25页 |
| 2.3.6 重复性 | 第25-26页 |
| 2.3.7 再现性 | 第26-27页 |
| 2.4 计数型测试系统 | 第27-30页 |
| 2.4.1 有效性技术 | 第27-28页 |
| 2.4.2 Kappa技术 | 第28-30页 |
| 第三章 测量系统能力评价 | 第30-50页 |
| 3.1 测量保证能力 | 第30-31页 |
| 3.2 元器件测试的特点 | 第31-33页 |
| 3.3 GR&R的研究方法 | 第33-36页 |
| 3.4 重复性与再现性分析实例 | 第36-48页 |
| 3.5 测量系统改进 | 第48-49页 |
| 3.6 测量系统分析的时机 | 第49-50页 |
| 第四章 测量工具的计量、校准和检定 | 第50-52页 |
| 4.1 计量 | 第50页 |
| 4.2 校准和检定 | 第50-52页 |
| 第五章 总结 | 第52-54页 |
| 参考文献 | 第54-55页 |
| 致谢 | 第55-56页 |
| 作者简介 | 第56-57页 |
