摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第10-15页 |
1.1 引言 | 第10-11页 |
1.2 国内外研究现状 | 第11-13页 |
1.3 本文的主要内容和安排 | 第13-15页 |
第二章 信号完整性的相关基础理论 | 第15-31页 |
2.1 传输线理论 | 第15-20页 |
2.1.1 麦克斯韦方程组 | 第15-16页 |
2.1.2 传输线波动方程 | 第16-17页 |
2.1.3 传输线的定义及分类 | 第17-19页 |
2.1.4 高速互连效应 | 第19-20页 |
2.2 信号完整性问题及其评估参数 | 第20-25页 |
2.2.1 信号完整性问题 | 第20-23页 |
2.2.2 信号完整性的评估参数 | 第23-25页 |
2.3 高速差分互连 | 第25-30页 |
2.3.1 理想方波信号的频谱 | 第25-28页 |
2.3.2 高速信号 | 第28页 |
2.3.3 差分互连 | 第28-30页 |
2.4 本章小结 | 第30-31页 |
第三章 Mini SAS连接器的信号完整性仿真分析及其优化 | 第31-53页 |
3.1 研究对象 | 第31-34页 |
3.1.1 Mini SAS简介 | 第31页 |
3.1.2 连接器的结构介绍 | 第31-34页 |
3.2 仿真软件及仿真流程 | 第34-38页 |
3.2.1 仿真软件 | 第34-35页 |
3.2.2 仿真流程 | 第35-38页 |
3.3 切换卡PCB的仿真优化 | 第38-43页 |
3.3.1 差分对Tx2的信号完整性仿真 | 第38-40页 |
3.3.2 金手指及焊盘的结构优化 | 第40-43页 |
3.4 连接器配合处的信号完整性仿真优化 | 第43-49页 |
3.4.1 连接器Pin针的信号完整性仿真 | 第43-46页 |
3.4.2 Pin针与金手指连接配合处的结构优化 | 第46-49页 |
3.5 PCB焊点尺寸对信号完整性的影响分析 | 第49-52页 |
3.6 本章小结 | 第52-53页 |
第四章 Mini SAS连接器的信号完整性测试分析 | 第53-68页 |
4.1 测试夹具设计 | 第53-60页 |
4.1.1 带状线与微带线的阻抗设计 | 第54-55页 |
4.1.2 盲孔与通孔的阻抗设计 | 第55-60页 |
4.2 测试校准件设计 | 第60-63页 |
4.3 测试 | 第63-66页 |
4.3.1 测试流程 | 第64-65页 |
4.3.2 测试结果分析 | 第65-66页 |
4.3.3 测试结果误差分析 | 第66页 |
4.4 本章小结 | 第66-68页 |
第五章 总结与展望 | 第68-70页 |
5.1 工作总结 | 第68-69页 |
5.2 研究展望 | 第69-70页 |
致谢 | 第70-71页 |
参考文献 | 第71-74页 |