基于静态源码分析的多线程死锁检测方法研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-14页 |
| ·研究背景 | 第10-11页 |
| ·研究内容 | 第11-12页 |
| ·论文结构和主要内容 | 第12-14页 |
| 第二章 相关研究 | 第14-21页 |
| ·软件测试 | 第14-17页 |
| ·静态分析 | 第14-16页 |
| ·动态测试 | 第16页 |
| ·基于缺陷模式的软件测试 | 第16-17页 |
| ·软件安全测试 | 第17-21页 |
| ·软件安全缺陷模式 | 第17-18页 |
| ·软件安全测试工具 | 第18-21页 |
| 第三章 死锁问题与Java多线程死锁模式研究 | 第21-34页 |
| ·Java多线程死锁模式研究 | 第22-31页 |
| ·线程状态分析 | 第22-23页 |
| ·Java的锁机制 | 第23-25页 |
| ·Java多线程死锁模式 | 第25-31页 |
| ·死锁检测方法现状 | 第31-34页 |
| ·静态死锁检测方法 | 第31-33页 |
| ·动态死锁检测方法 | 第33-34页 |
| 第四章 基于静态源码分析的多线程死锁检测方法 | 第34-42页 |
| ·线程并发特征分析 | 第35-36页 |
| ·别名分析 | 第36-38页 |
| ·影响别名分析精度的因素 | 第36页 |
| ·Java中的别名问题分析 | 第36-37页 |
| ·别名分析算法 | 第37-38页 |
| ·死锁计算 | 第38-42页 |
| ·死锁的表示 | 第38-39页 |
| ·可达分析 | 第39-40页 |
| ·门锁分析 | 第40页 |
| ·并发与逃逸分析 | 第40-42页 |
| 第五章 多线程死锁检测子系统的设计与实现 | 第42-70页 |
| ·DTS软件测试系统简介 | 第42-44页 |
| ·多线程死锁检测子系统的概要设计 | 第44-47页 |
| ·总体架构 | 第44-45页 |
| ·总体流程图 | 第45-47页 |
| ·多线程死锁检测子系统的详细设计 | 第47-65页 |
| ·线程并发特征分析模块 | 第47-50页 |
| ·别名分析模块 | 第50-54页 |
| ·可达分析模块 | 第54-59页 |
| ·门锁分析模块 | 第59-62页 |
| ·并发与逃逸分析模块 | 第62-65页 |
| ·多线程死锁检测子系统实验数据分析 | 第65-70页 |
| ·实验环境 | 第66页 |
| ·基于缺陷模式的软件测试指标分析 | 第66-67页 |
| ·实验数据集 | 第67-68页 |
| ·实验结果分析 | 第68-70页 |
| 第六章 总结与展望 | 第70-72页 |
| ·论文总结 | 第70-71页 |
| ·进一步的研究工作 | 第71-72页 |
| 参考文献 | 第72-75页 |
| 致谢 | 第75-76页 |
| 作者攻读学位期间发表的论文 | 第76页 |
| 攻读学位期间提交申请的专利 | 第76页 |
| 攻读学位期间参与的研究与开发项目 | 第76页 |
