大功率逆导型IGBT应用特性研究与专用驱动设计
致谢 | 第5-6页 |
摘要 | 第6-7页 |
ABSTRACT | 第7-8页 |
1 引言 | 第11-19页 |
1.1 IGBT产业发展与研究综述 | 第11-14页 |
1.2 逆导型IGBT研究现状与课题背景 | 第14-17页 |
1.3 论文主要研究内容 | 第17-19页 |
2 逆导型IGBT工作原理与建模方法 | 第19-39页 |
2.1 逆导型IGBT物理结构与工作原理 | 第19-20页 |
2.2 RC-IGBT集成二极管特性分析 | 第20-27页 |
2.2.1 P-i-N二极管数学模型 | 第20-24页 |
2.2.2 二极管载流子寿命控制 | 第24-25页 |
2.2.3 集成二极管控制方法 | 第25-27页 |
2.3 逆导型IGBT模块建模与仿真 | 第27-35页 |
2.3.1 IGBT部分建模 | 第27-31页 |
2.3.2 集成可控二极管建模 | 第31-35页 |
2.4 RC-IGBT的热特性与热模型 | 第35-38页 |
2.5 本章小结 | 第38-39页 |
3 6.5kV逆导型IGBT特性测试与损耗计算 | 第39-57页 |
3.1 静态特性测试 | 第39-42页 |
3.2 短路特性测试 | 第42-43页 |
3.3 二极管退饱和测试 | 第43-51页 |
3.3.1 测试平台搭建 | 第43-45页 |
3.3.2 退饱和控制对开关特性的影响 | 第45-48页 |
3.3.3 退饱和宽度对动态损耗的影响 | 第48-51页 |
3.4 应用于三相逆变器的损耗计算 | 第51-56页 |
3.5 本章小结 | 第56-57页 |
4 逆导型IGBT专用门极驱动设计 | 第57-75页 |
4.1 IGBT驱动原理与参数计算 | 第57-62页 |
4.1.1 IGBT驱动过程分析 | 第57-59页 |
4.1.2 门极驱动器主参数计算 | 第59-62页 |
4.2 驱动电路硬件设计 | 第62-69页 |
4.2.1 短路检测电路 | 第62-64页 |
4.2.2 模式检测电路 | 第64-65页 |
4.2.3 驱动电压电阻桥 | 第65-67页 |
4.2.4 CPLD接口电路 | 第67-69页 |
4.3 逆导型IGBT驱动算法 | 第69-74页 |
4.3.1 退饱和控制过程 | 第69-71页 |
4.3.2 输出桥控制方法 | 第71-74页 |
4.4 本章小结 | 第74-75页 |
5 专用驱动测试与结果分析 | 第75-89页 |
5.1 实验平台搭建 | 第75-76页 |
5.2 各二极管控制模式的分析 | 第76-86页 |
5.2.1 各二极管控制模式实验结果 | 第76-81页 |
5.2.2 门极电压对反向恢复电荷的影响 | 第81-83页 |
5.2.3 各模式动态特性的对比 | 第83-86页 |
5.3 各模式逆变器损耗的对比 | 第86-88页 |
5.4 本章小结 | 第88-89页 |
6 总结与展望 | 第89-91页 |
6.1 总结 | 第89-90页 |
6.2 展望 | 第90-91页 |
参考文献 | 第91-95页 |
作者简历及攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第95-99页 |
学位论文数据集 | 第99页 |