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基于嵌入式应用的阻变存储器设计

摘要第2-3页
Abstract第3页
第一章 绪论第6-10页
    1.1 存储器的现状与未来第6-7页
    1.2 嵌入式非易失性存储器的现状和未来发展第7-8页
    1.3 论文的主要工作和技术要点第8-9页
    1.4 论文结构安排第9-10页
第二章 阻变存储器特性第10-23页
    2.1 阻变存储结构介绍第10-16页
        2.1.1 CuxO阻变存储器的基本结构及其特性第10-12页
        2.1.2 1T1R结构阻变存储器存储单元和操作方式第12-13页
        2.1.3 基于2T2R结构存储单元第13-14页
        2.1.4 多次编程RRAM存储器和一次编程RRAM存储器第14-16页
    2.2 其余嵌入式非易失性存储器特性第16-23页
        2.2.1 嵌入式Flash存储器第16-17页
        2.2.2 浮栅型逻辑非易失性存储器第17-18页
        2.2.3 电子熔丝存储器第18-19页
        2.2.4 反熔丝型非易失性存储器第19-21页
        2.2.5 不同嵌入式非易失性存储器的比较第21-23页
第三章 用于高速代码存储的阻变存储器的设计第23-52页
    3.1 系统功能描述第23-26页
        3.1.1 基本引脚定义和相关设计指标第24-26页
    3.2 系统模块划分第26-31页
        3.2.1 存储器阵列的设计第26-31页
    3.3 译码逻辑的设计第31-35页
        3.3.1 行译码器的实现第31-35页
    3.4 高压产生电路第35-39页
        3.4.1 高压电荷泵第35-36页
        3.4.2 稳压电路第36-37页
        2.4.3 电荷泵时钟产生电路第37-38页
        3.4.4 电荷泵仿真结果第38-39页
    3.5 读出电路设计第39-42页
        3.5.1 灵敏放大器第39-40页
        3.5.2 读取偏置电路第40-42页
        3.5.3 读取电路仿真结果第42页
    3.6 其余外围电路第42-45页
        3.6.1 输出驱动电路(Output Buffer)第43页
        3.6.2 电平转化电路第43-44页
        3.6.3 测试电路的基本结构第44-45页
    3.7 芯片仿真结果第45-48页
        3.7.1 芯片写仿真结果第45-48页
    3.8 存储芯片的版图设计第48-52页
        3.8.1 存储器阵列单元的版图第48-49页
        3.8.2 核心电路的版图第49-51页
        3.8.3 整个芯片的版图第51-52页
第四章 应用于RFID的低功耗阻变存储器设计第52-67页
    4.1 低功耗存储器系统描述和功能说明第53-58页
        4.1.1 存储器容量的划分第53-54页
        4.1.3 存储器与基带连接端口第54-55页
        4.1.4 存储器的操作时序第55-57页
        4.1.5 存储器的设计指标第57页
        4.1.6 存储器的功能框图第57-58页
    4.2 低功耗阻变存储器设计技术第58-65页
        4.2.1 降低编程功耗的低功耗反馈技术第58-64页
        4.2.2 低功耗的延时电路第64页
        4.2.3 高效率的电荷泵第64-65页
    4.3 芯片的版图第65-67页
第五章 结论第67-69页
    5.1 论文工作总结第67页
    5.2 深入工作的设想第67-69页
参考文献第69-71页
附录第71-72页
致谢第72-73页

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