电子设备EFT测试与性能分析
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-15页 |
| ·研究的背景 | 第8-9页 |
| ·综述及相关概念简介 | 第9-11页 |
| ·国内外发展状况 | 第11-13页 |
| ·课题来源和主要工作 | 第13-14页 |
| ·本文的组织结构 | 第14-15页 |
| 第二章 EFT 测试原理与测试系统 | 第15-26页 |
| ·系统级EFT 测试 | 第15-20页 |
| ·系统级 EFT 测试基本概念 | 第15页 |
| ·系统级 EFT 测试实验设备 | 第15-18页 |
| ·系统级 EFT 测试系统的组建 | 第18-20页 |
| ·芯片级 EFT 测试 | 第20-26页 |
| ·芯片级 EFT 测试介绍 | 第20-21页 |
| ·芯片级 EFT 测试系统 | 第21-24页 |
| ·芯片级 EFT 测试系统的组建 | 第24-26页 |
| 第三章 EFT 耦合机理和主动防护 | 第26-35页 |
| ·电快速瞬变脉冲基础知识 | 第26-30页 |
| ·电快速瞬变脉冲群的基本信息 | 第26-27页 |
| ·电快速瞬变脉冲群的频谱分析 | 第27-30页 |
| ·电快速瞬变脉冲的耦合分析 | 第30-34页 |
| ·电感性耦合 | 第30页 |
| ·电容性耦合 | 第30-31页 |
| ·电耦合和磁耦合的综合考虑 | 第31-32页 |
| ·辐射耦合 | 第32-33页 |
| ·电导性耦合 | 第33-34页 |
| ·电快速瞬变脉冲群干扰的常用防护措施 | 第34-35页 |
| 第四章 EFT 测试与分析 | 第35-49页 |
| ·设备系统级 EFT 测试 | 第35-37页 |
| ·试验要求 | 第35页 |
| ·系统级 EFT 测试数据与结论 | 第35-37页 |
| ·芯片 IC 级 EFT 测试 | 第37-49页 |
| ·试验要求 | 第37页 |
| ·芯片 EMC 测试板的设计与制作 | 第37-40页 |
| ·IC 级EFT 测试数据与结论 | 第40-49页 |
| 第五章 电子设备 EFT 抗干扰设计 | 第49-73页 |
| ·控制板电路板的分析与整改 | 第49-54页 |
| ·控制板 PCB 的电磁兼容问题分析 | 第50-51页 |
| ·控制板 PCB 的电磁兼容设计 | 第51-54页 |
| ·对设备浮地的分析与设计 | 第54-55页 |
| ·电源输入端口的设计 | 第55-56页 |
| ·对光电隔离的分析和设计 | 第56-58页 |
| ·软件方式抗干扰设计 | 第58-59页 |
| ·芯片失效分析 | 第59-61页 |
| ·芯片 EFT 保护电路设计 | 第61-64页 |
| ·调试验证 | 第64-72页 |
| ·设备系统级 EFT 验证 | 第64-65页 |
| ·芯片 IC 级 EFT 验证 | 第65-72页 |
| ·本章小结 | 第72-73页 |
| 第六章 全文总结 | 第73-75页 |
| ·全文总结 | 第73-74页 |
| ·下一步研究工作的展望 | 第74-75页 |
| 致谢 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-78页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第78-79页 |
