| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-17页 |
| 第1章 绪论 | 第17-37页 |
| ·选题背景 | 第17页 |
| ·热电效应基本原理 | 第17-20页 |
| ·Seebeck效应 | 第17-18页 |
| ·Peltier效应 | 第18-19页 |
| ·Thomson效应 | 第19页 |
| ·热电效应的应用 | 第19-20页 |
| ·热电输运性能 | 第20-25页 |
| ·Seebeck系数 | 第21-22页 |
| ·电导率 | 第22页 |
| ·热导率 | 第22-24页 |
| ·参数间的制约关系 | 第24-25页 |
| ·优化材料ZT值的重要途径 | 第25-27页 |
| ·降低热导率 | 第25-26页 |
| ·提高功率因子 | 第26-27页 |
| ·纳米结构热电材料研究进展 | 第27-33页 |
| ·低维结构热电材料 | 第28-30页 |
| ·纳米结构块体材料 | 第30-33页 |
| ·Bi_2Te_3体系热电材料研究进展 | 第33-36页 |
| ·概述 | 第33-34页 |
| ·Bi_2Te_3体系纳米结构块材的制备方法及研究现状 | 第34-36页 |
| ·本论文研究意义与主要内容 | 第36-37页 |
| 第2章 机械合金化制备Bi_2Te_3纳米粉体的研究 | 第37-53页 |
| ·引言 | 第37-38页 |
| ·样品制备与表征方法 | 第38-39页 |
| ·机械合金化制备Bi_2Te_3粉体 | 第38-39页 |
| ·样品的物相结构分析 | 第39页 |
| ·样品的微观形貌、结构及成分分析 | 第39页 |
| ·差示扫描热测量 | 第39页 |
| ·球磨粉体的XRD分析 | 第39-42页 |
| ·球磨粉体的微观结构与成分分析 | 第42-49页 |
| ·球磨粉体的DSC分析 | 第49-50页 |
| ·本章小结 | 第50-53页 |
| 第3章 常压烧结Bi_2Te_3纳米晶块体及热电性能研究 | 第53-67页 |
| ·引言 | 第53页 |
| ·样品的制备与表征方法 | 第53-56页 |
| ·Bi_2Te_3纳米粉的制备与表征 | 第53-54页 |
| ·常压烧结制备Bi_2Te_3纳米晶块体 | 第54页 |
| ·常压烧结Bi_2Te_3纳米晶块体样品的结构表征 | 第54页 |
| ·样品的性能测试 | 第54-56页 |
| ·纳米粉的结构分析 | 第56-57页 |
| ·常压烧结块体样品的结构与晶粒尺寸 | 第57-59页 |
| ·常压烧结NCB-Bi_2Te_3样品的热电性能 | 第59-62页 |
| ·常压烧结NCB-Bi_2Te_3样品的电阻率 | 第59-60页 |
| ·常压烧结NCB-Bi_2Te_3样品的Seebeck系数 | 第60页 |
| ·常压烧结NCB-Bi_2Te_3样品的热导率 | 第60-61页 |
| ·常压烧结NCB-Bi_2Te_3样品的ZT值 | 第61-62页 |
| ·ZT值增强的机理探讨 | 第62-64页 |
| ·本章小结 | 第64-67页 |
| 第4章 高压烧结Bi_2Te_3纳米晶块体与热电性能研究 | 第67-99页 |
| ·引言 | 第67-68页 |
| ·样品的制备与表征方法 | 第68-70页 |
| ·Bi_2Te_3纳米粉的制备与表征 | 第68页 |
| ·高压烧结制备Bi_2Te_3纳米晶块体样品 | 第68-70页 |
| ·压烧结块体样品的结构与性能测试 | 第70页 |
| ·高压烧结NCB-Bi_2Te_3的物相分析 | 第70-71页 |
| ·高压烧结NCB-Bi_2Te_3的微观结构分析 | 第71-77页 |
| ·高压烧结NCB-Bi_2Te_3样品的FESEM分析 | 第71-72页 |
| ·高压烧结NCB-Bi_2Te_3样品的TEM形貌分析 | 第72-74页 |
| ·高压烧结NCB-Bi_2Te_3样品的高分辨微观结构分析 | 第74-77页 |
| ·烧结温度对样品微观形貌与电阻率的影响 | 第77-78页 |
| ·高压烧结NCB-Bi_2Te_3的演化过程分析 | 第78-81页 |
| ·高压烧结NCB-Bi_2Te_3样品的晶粒尺寸与微观应变演化 | 第78-80页 |
| ·高压烧结NCB-Bi_2Te_3样品的微观形貌演化 | 第80页 |
| ·高压烧结NCB-Bi_2Te_3的烧结演化过程 | 第80-81页 |
| ·高压烧结NCB-Bi_2Te_3的热电性能 | 第81-87页 |
| ·高压烧结NCB-Bi_2Te_3的电输运性质 | 第81-83页 |
| ·高压烧结NCB-Bi_2Te_3的热输运性质 | 第83-84页 |
| ·高压烧结NCB-Bi_2Te_3的ZT值 | 第84-85页 |
| ·高压烧结NCB-Bi_2Te_3的ZT值增强机理分析 | 第85-87页 |
| ·高压烧结NCB-Bi_2Te_3的性能稳定性 | 第87-88页 |
| ·NCB-Bi_2Te_3的取向性研究 | 第88-97页 |
| ·HPS-和SPS-Bi_2Te_3纳米晶块体的制备与取向性表征 | 第89-90页 |
| ·NCB-Bi_2Te_3的结构取向性分析 | 第90-93页 |
| ·NCB-Bi_2Te_3的热电性能取向性分析 | 第93-96页 |
| ·NCB-Bi_2Te_3的取向性微观机制分析 | 第96-97页 |
| ·本章小结 | 第97-99页 |
| 第5章 高压烧结Bi_2Te_3纳米晶块体的晶格缺陷研究 | 第99-115页 |
| ·引言 | 第99页 |
| ·实验与计算方法 | 第99-102页 |
| ·电子淹灭寿命及符合多普勒展宽谱测定 | 第99-101页 |
| ·第一性原理计算 | 第101-102页 |
| ·样品结构与物性的基本信息 | 第102-103页 |
| ·正电子湮灭寿命谱分析 | 第103-105页 |
| ·符合多普勒展宽谱分析 | 第105-106页 |
| ·缺陷形成能计算 | 第106-111页 |
| ·缺陷Bi_2Te_3晶体的电子结构 | 第111-113页 |
| ·高压烧结NCB-Bi_2Te_3的Seebeck系数 | 第113页 |
| ·本章小结 | 第113-115页 |
| 第6章 高压烧结Bi_(0.5)Sb_(1.5)Te_3纳米晶块体与热电性能 | 第115-127页 |
| ·引言 | 第115页 |
| ·样品的制备与表征方法 | 第115-116页 |
| ·球磨粉的物相结构与相貌 | 第116-117页 |
| ·高压烧结样品的物相结构与形貌 | 第117-118页 |
| ·高压烧结样品的热电性能 | 第118-125页 |
| ·本章小结 | 第125-127页 |
| 结论 | 第127-129页 |
| 参考文献 | 第129-139页 |
| 攻读博士学位期间承担的科研任务与主要成果 | 第139-141页 |
| 致谢 | 第141-142页 |
| 作者简介 | 第142页 |
