专利陷阱的定量识别方法研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 1 绪论 | 第8-16页 |
| 1.1 选题背景及研究意义 | 第8-9页 |
| 1.2 相关概念界定 | 第9-12页 |
| 1.2.1 专利及专利间关系 | 第9-11页 |
| 1.2.2 专利陷阱 | 第11-12页 |
| 1.3 研究方法与技术路线 | 第12-14页 |
| 1.3.1 研究方法 | 第12页 |
| 1.3.2 研究工具 | 第12-13页 |
| 1.3.3 技术路线 | 第13-14页 |
| 1.4 创新点与研究内容 | 第14-16页 |
| 2 相关领域研究进展 | 第16-24页 |
| 2.1 专利定量分析方法的研究进展 | 第16-20页 |
| 2.1.1 专利引证 | 第16-18页 |
| 2.1.2 专利网络分析 | 第18页 |
| 2.1.3 专利地图 | 第18-19页 |
| 2.1.4 专利质量评价 | 第19-20页 |
| 2.2 专利陷阱的研究进展 | 第20-21页 |
| 2.2.1 专利陷阱的产生与危害 | 第20-21页 |
| 2.2.2 专利陷阱的定量识别研究 | 第21页 |
| 2.3 专利陷阱应对策略的研究进展 | 第21-23页 |
| 2.3.1 专利预警研究 | 第21-22页 |
| 2.3.2 应对策略研究 | 第22-23页 |
| 2.4 本章小结 | 第23-24页 |
| 3 专利陷阱典型案例分析 | 第24-33页 |
| 3.1 案例选择与资料来源 | 第24-25页 |
| 3.1.1 案例选择 | 第24-25页 |
| 3.1.2 资料来源 | 第25页 |
| 3.2 案例描述：苹果与三星的专利之争 | 第25-29页 |
| 3.2.1 兴起背景分析 | 第25-26页 |
| 3.2.2 专利世纪之争分析 | 第26-28页 |
| 3.2.3 专利战中的专利分析 | 第28-29页 |
| 3.3 专利陷阱的典型特征 | 第29-33页 |
| 3.3.1 专利数量特征分析 | 第29-30页 |
| 3.3.2 专利密度特征分析 | 第30-31页 |
| 3.3.3 专利陷阱特征分析 | 第31-33页 |
| 4 定量识别方法的确定 | 第33-43页 |
| 4.1 专利数量指标 | 第33-35页 |
| 4.1.1 绝对数量 | 第34-35页 |
| 4.1.2 年均增长率 | 第35页 |
| 4.2 专利密度指标 | 第35-41页 |
| 4.2.1 标准网络密度公式 | 第36-38页 |
| 4.2.2 专利网络密度公式 | 第38-41页 |
| 4.3 识别方法的构建 | 第41-43页 |
| 5 应用实例：电通信领域专利陷阱 | 第43-57页 |
| 5.1 研究样本 | 第43-48页 |
| 5.1.1 样本选择原则 | 第43-44页 |
| 5.1.2 样本描述性统计 | 第44-48页 |
| 5.2 数据处理 | 第48-55页 |
| 5.2.1 专利数量的测度 | 第48-53页 |
| 5.2.2 专利密度的测度 | 第53-54页 |
| 5.2.3 专利陷阱的识别 | 第54-55页 |
| 5.3 数据分析 | 第55-57页 |
| 6 结论与展望 | 第57-58页 |
| 6.1 研究结论 | 第57页 |
| 6.2 不足与展望 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-65页 |
| 攻读硕士学位期间发表学术论文情况 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
